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標題: 半導體器件及集成電路損壞的特點小結 [打印本頁]

作者: designapp 時間: 2015-12-3 11:30
標題: 半導體器件及集成電路損壞的特點小結
　　(1)二、三極管的損壞一般是PN結擊穿或開路。其中以擊穿短路居多。此外，還有兩種損壞表現一是熱穩定性變差，表現為開機時正常、工作一段時間后。發生軟擊穿另一種是PN結的特性變差，用萬用表Rx1K測，各PN結均正常，但上機后不能正常工作如果用RX10或RX1低量程擋測就會發現其NN結正向阻值比正常值大。測量二、三極管可以用指針萬用表在路測量，較準確的方法是將萬用表置RX10或Rx1擋(一般用RX10擋，不明顯時再用Rx1擋〕在線測二、三極管的PN結正、反向電阻。如果正向電阻不太大《相對正常值〕反向電阻足夠大(相對正向值)表明該PN結正常反之就值得懷疑。需焊下后再測。這是因為一般電躋的二、不極管外圍電阻大多在幾百、幾千歐以上，用萬用表低阻值擋在線側量，可以基本忽略外圍電阻對PN結電阻的影響。
　　(2)損壞的特點。集成電路內部結構復雜功能很多。任何一部分損壞都無法正常地工作。集成電路的損壞也有兩種徹底損壞、熱穩定性不良。徹底損壞時。可將其拆下。與正常的同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、反向電阻，總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對熱穩定性差的，可以在設備工作時，用無水酒精冷卻被懷疑的集成電路，如果故障發生時間推遲或不再發生故障，即可判定。通常只能通過更換新集成電路來排除。

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