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標題: 集成電路檢測方法 [打印本頁]

作者: ywwork2011 時間: 2011-2-23 12:28
標題: 集成電路檢測方法
各位長老想問問集成電路的檢測方法！！！
還望賜教

作者: rieman 時間: 2011-2-24 11:35
這個問題好大！先上網(wǎng)搜索一下常規(guī)芯片（如74系列）的檢測方法再說吧。至于模擬芯片、MCU等，那方法可是千差萬別的呀！

作者: ywwork2011 時間: 2011-2-24 12:48
單片機芯片：如ATMEGA系列，51系列

作者: lianwazi 時間: 2011-2-26 19:43
也太大了吧！！！

作者: leefy 時間: 2011-3-22 15:05
范圍太寬了。針對一種架構(gòu)就是一套方案，51系列說是一種指令集，可是有12T，6T，3T，2T，1T的，架構(gòu)已經(jīng)不一樣了，反應(yīng)時序不同。
另外，目標是什么？已知芯片測好壞？還是未知芯片測型號？
其實，測試單片芯片，就是黑匣子測試，看是否符合某個標準模式。

作者: liying07852 時間: 2011-3-24 08:59
我想大多數(shù)的芯片的正確與否都是根據(jù)是否能執(zhí)行正確的邏輯來定義的，檢測恐怕也是要依據(jù)這個。

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