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標題: 納米軟件芯片測試之芯片上電和下電功能的測試方法 [打印本頁]

作者: namisoft 時間: 2023-9-19 17:59
標題: 納米軟件芯片測試之芯片上電和下電功能的測試方法
　　芯片的上電與下電功能測試是集成電路生產和研發(fā)過程中非常重要的一步，它可以幫助企業(yè)確保產品的可靠性、整合性和兼容性，同時提高生產效率和產品質量。
　　因此在芯片的研發(fā)設計中，企業(yè)會對芯片的上下電有嚴格的要求，包括上下電的時序，斜率等，不合理的設計往往會引起芯片上電無法啟動、芯片邏輯混亂等異常情況。

　　測試芯片的上下電功能的重要性
　　1.芯片的上下電功能可以直觀的反應出芯片的穩(wěn)定性和可靠性;上電過程需要確保電源芯片能夠在給定條件下實現正確的初始化和輸出，而下電過程則需要確保芯片能夠在接收關機信號后安全地停止輸出電壓。
　　2.芯片通常需要與其他器件和設備共同工作，因此測試其上下電功能可以驗證芯片在系統(tǒng)級別上的整合性和兼容性。如果電源芯片不能正常啟動或關閉，可能會導致整個系統(tǒng)無法工作。
　　3.測試電源芯片的上下電功能可以幫助生產廠家和質量控制部門快速檢測和篩選出故障或品質不合格的產品，以確保產品的出廠質量和生產效率。
　　芯片上下電功能測試原理
　　對于芯片上電與下電功能的檢測，上下電波形和時間是比較重要的指標，因此后續(xù)測試主要以測試這兩個指標為主。
　　芯片上電之后會有一個上電復位(POR)現象，也就是電源給的輸入電壓達到芯片的工作電壓之后，芯片不會立刻進入工作狀態(tài)，而是會有一個緩慢的啟動過程，這個過程被稱為上電復位，而上電復位所需的時間就是上電時間;同理下電復位(BOR)也是指是輸入電壓斷開之后，芯片從工作狀態(tài)緩慢進入“歸零”狀態(tài)的現象，這個過程所需的時間為下電時間。
　　在芯片的設計和產生中企業(yè)總是希望上下電時間小一些，一般都是在ms級別，過長的上電時間會導致芯片無法正常啟動，影響其他元器件的的工作，從而使整個系統(tǒng)啟動異常;而過長的下電時間則會導致芯片的工作效率低下，無法再次快速上電。

　　芯片測試系統(tǒng)測試上下電功能的方法
　　在測試芯片的上下電波形和時間之前，需要準備硬件儀器，包括：多通道電源、電子負載、示波器。
　　電源負責給芯片提供輸入電壓，讓芯片進入工作狀態(tài);電子負載負責在輸出端拉載不同電流;示波器則負責采集芯片上電與下電時的波形。
　　為了測試在不同電流下芯片的上下電功能，我們可以讓電子負載拉載空載和滿載的電流，通過示波器采集兩種狀態(tài)下，輸出電壓、輸出電流的波形，采集到波形之后我們就可以直接讀取到上電時間和下電時間的參數。
　　使用自動芯片測試系統(tǒng)需要提前將硬件儀器和芯片連接在一起，之后直接登錄ATECLOUD，然后啟動平臺中芯片上下電測試的方案;系統(tǒng)會自動設置電壓、電流等參數，3-5秒后就可以直接抓取上下電波形，并采集到上下電時間，同時將采集到的圖片和指標直接展示在系統(tǒng)界面上，測試系統(tǒng)可以免去手動參數調節(jié)，記錄數據等過程，極大的提升測試的效率。

　　納米軟件芯片測試的優(yōu)勢
　　除了自動配置參數、抓取圖形與數據之外，自動測試系統(tǒng)還可以將測試中的數據直接導出為數據報告，而數據報告的格式也可以根據用戶需求自定義選擇，再也無需手動記錄龐大的測試數據了;數據洞察模塊可以將所有測試到的數據進行整體分析，自定義數據看板，數據圖表大屏幕集中管控，可以助力企業(yè)從測試效率等多維度分析企業(yè)數據，從而保障企業(yè)及時優(yōu)化研發(fā)方向，支持管理決策。詳情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html

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