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標(biāo)題: 納米軟件帶你了解電源模塊高低溫老化測試方法 [打印本頁]

作者: namisoft 時間: 2024-3-8 11:25
標(biāo)題: 納米軟件帶你了解電源模塊高低溫老化測試方法
　　為了檢測和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能，高低溫老化測試是不可或缺的測試步驟。高低溫老化測試是電子產(chǎn)品制造過程中的重要一環(huán)，電源模塊高低溫老化測試就是為了檢測電源模塊在高溫和低溫下是否可以正常工作。

　　電源模塊高溫老化測試方法
　　高溫老化測試的目的是檢測電源模塊在高溫環(huán)境下的工作性能，從而判斷其在高溫條件下是否可以正常工作。具體測試步驟如下：
　　1. 對待測電源模塊進(jìn)行外觀檢查，并檢測其在正常條件下的輸出電壓。
　　2. 正確連接待測產(chǎn)品與測試設(shè)備，并將待測電源模塊放入試驗箱內(nèi)，溫度達(dá)到高溫要求時，開始測試。
　　3. 首先在額定負(fù)載條件下，在輸入電壓為額定電壓、最大電壓、最小電壓條件下分別對電源模塊進(jìn)行開關(guān)機(jī)測試，測試時長各為2小時，電源模塊開關(guān)機(jī)應(yīng)正常。
　　4. 調(diào)整負(fù)載為最小負(fù)載，輸入電壓為額定電壓，對電源模塊反復(fù)開關(guān)機(jī)，時長2小時，電源模塊開關(guān)機(jī)應(yīng)正常。
　　5. 測試結(jié)束，取出待測品并放置2小時，檢測待測電源模塊的外觀，并進(jìn)行輸出電壓和紋波測試。

　　電源模塊低溫老化測試方法
　　低溫老化測試的是檢測電源模塊在低溫條件下是否可以正常工作，測試方法如下：
　　1. 檢查待測電源模塊的外觀及其在正常條件下的輸出電壓。
　　2. 正確連接測試電路后，將待測電源放入試驗箱內(nèi)，溫度達(dá)到低溫要求時，開始測試。
　　3. 調(diào)整負(fù)載為額定負(fù)載，在輸入電壓為額定電壓、最大電壓、最小電壓條件下分別對電源模塊進(jìn)行開關(guān)機(jī)測試，測試時長各為2小時，電源模塊開關(guān)機(jī)應(yīng)正常。
　　4. 調(diào)整負(fù)載為最小負(fù)載，輸入電壓為額定電壓，對電源模塊反復(fù)開關(guān)機(jī)，時長2小時，電源模塊開關(guān)機(jī)應(yīng)正常。
　　5. 測試結(jié)束，取出待測品并放置2小時，檢測待測電源模塊的外觀，并進(jìn)行輸出電壓和紋波測試。

　　在測試過程中及測試結(jié)束后，電源模塊開關(guān)機(jī)正常，并且電源輸出電壓和紋波在規(guī)定范圍內(nèi)，說明電源模塊在高低溫條件下可以正常工作。納米軟件ATECLOUD-POWER電源模塊測試系統(tǒng)專門為廣大用戶提供一體化電源模塊測試解決方案，滿足客戶需求，全方位分析數(shù)據(jù)，支持功能擴(kuò)展，推動自動化測試行業(yè)的發(fā)展！
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