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標題: 全志T3＋Logos FPGA開發板——FPGA案例開發手冊 [打印本頁]

作者: Tronlong-- 時間: 2024-7-22 17:01
標題: 全志T3＋Logos FPGA開發板——FPGA案例開發手冊

前言

本文檔主要提供開發板FPGA端案例測試方法，適用開發環境如下：
Windows開發環境：Windows 7 64bit、Windows 10 64bit
Pango Design Suite：Pango Design Suite 2021.1-SP7.1
FPGA案例位于產品資料“4-軟件資料\Demo\fpga-demos\”目錄下。案例包含project和bin兩個目錄，其中project目錄下包含案例工程文件，bin目錄下含有案例.sbit和.sfc格式可執行文件。.sbit格式文件用于在線加載，.sfc格式文件用于固化至SPI FLASH。
進行本文檔操作前，請先按照調試工具安裝相關文檔安裝Pango Design Suite 2021.1-SP7.1工具，并使用創龍科技TL-PGMCable下載器將評估板FPGA JTAG接口連接至PC機。

本文測試板卡為創龍科技TLT3F-EVM開發板，它是一款基于全志科技T3四核ARM Cortex-A7 + 紫光同創Logos PGL25G/PGL50G FPGA設計的異構多核國產工業開發板，ARM Cortex-A7處理器單元主頻高達1.2GHz。評估板由核心板和評估底板組成，核心板CPU、FPGA、ROM、RAM、電源、晶振、連接器等所有器件均采用國產工業級方案，國產化率100%。同時，評估底板大部分元器件亦采用國產工業級方案。核心板經過專業的PCB Layout和高低溫測試驗證，穩定可靠，可滿足各種工業應用環境。

led_flash案例 案例說明

案例功能：控制評估底板LED3、LED4每隔0.5s將狀態翻轉一次。

圖 1

管腳約束可查看案例"project\led_flash_xxx\constraints\led_flash.fdc"文件。

案例測試
請運行程序，此時可看到評估底板的LED3、LED4進行閃爍。

關鍵代碼

頂層文件為"project\led_flash_xxx\hdl\led_flash.v"，關鍵代碼說明如下。

使用外部晶振提供的sys_clk作為LED參考時鐘。
利用sys_clk(24MHz)進行計數，使LED按照0.5s的時間間隔進行狀態翻轉。

圖 2

key_test案例
案例說明

案例功能：通過FPGA端用戶輸入按鍵USER4(KEY8)控制評估底板LED3狀態。

圖 3

圖 4

管腳約束可查看案例"project\key_test_xxx\constraints\key_test.fdc"文件。

案例測試

請運行程序，此時每按下USER4(KEY8)一次，LED3狀態改變一次。

關鍵代碼

頂層文件為"project\key_test_xxx\hdl\key_tes.v"，關鍵代碼說明如下。

使用外部晶振提供的sys_clk作為參考時鐘。
利用sys_clk(24MHz)進行計數，對按鍵進行按鍵消抖，產生按鍵標識信號控制LED3的狀態。

圖 5

ad7606_capture案例 案例說明

案例功能：通過創龍科技TL7606P模塊采集8通道數據（采樣率為200KSPS），并使用PDS的Debugger工具顯示原始波形。程序功能框圖如下所示。

圖 6

管腳約束可查看案例"project\ad7606_capture_xxx\constraints\ad7606_capture.fdc"文件。

案例測試 硬件連接

請將創龍科技TL7606P-A1模塊連接至評估板FPGA ExPORT0(CON24)接口，硬件連接如下圖所示。

圖 7

案例支持8通道AD數據同時采集與顯示，本次測試以AD模塊V1通道采集一路AD數據為例進行演示。請分別將AD模塊的V1通道端子連接至信號發生器正極、AGND端子連接至信號發生器負極。
請設置信號發生器A通道實際輸出頻率為1KHz、峰峰值為5.0Vpp（即幅值為2.5V）的正弦波信號。
備注：本測試使用的TL7606P-A1模塊，量程為±5V，待測信號電壓請勿超過模塊量程，否則可能會導致模塊損壞。

操作說明