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*測試產(chǎn)品：芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動化測試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場效應(yīng)管、結(jié)型場效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動化測試。 *被測項目：溫度測試、耐電壓測試、引腳可靠性測試、ESD抗干擾測試、運行測試、X射線侵入測試等。 *測試場景：研發(fā)測試、產(chǎn)線測試、老化測試、一測二測等。 ATECLOUD-IC可測試產(chǎn)品類型 二極管、三極管、絕緣柵型場效應(yīng)管、結(jié)型場效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件自動化測試 ATECLOUD-IC與傳統(tǒng)芯片測試系統(tǒng)區(qū)別 ATECLOUD-IC解決測試痛點 ☁ 人工手動測試，效率低，需要提高測試效率和準確性； ☁ 測試產(chǎn)品種類繁多，測試方法多樣，客戶需要靈活的解決方案，以適應(yīng)未來的變化和需求； ☁ 記錄測試數(shù)據(jù)量大，容易出錯，需要提高測試效率和準確性； ☁ 長時間測試，工作量大，需要降低測試成本； ☁ 現(xiàn)有軟件系統(tǒng)迭代繁瑣且耗時，不能持續(xù)兼容新產(chǎn)品； ☁ 需要滿足特定的測試需求，如外購配件等； ☁ 需要符合自身芯片測試方法； ☁ 需要尋找國產(chǎn)化替代方案； ATECLOUD-IC測試項目清單 ATECLOUD-IC測試儀器及配件 系統(tǒng)通過GPIB、RS232、LAN、USB等多種通訊方式集成多種類測試儀器，系統(tǒng)兼容多種品牌儀器型號，全面降低企業(yè)產(chǎn)品測試成本，提高產(chǎn)品測試效率，測試數(shù)據(jù)智能分析，全面提高企業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量。 用戶儀器可自由選型：兼容2000多種不同廠家、型號的儀器，不會被固定硬件限制選擇，經(jīng)濟適用。 ATECLOUD-IC功能介紹 快速方案搭建，一鍵運行測試 ● 支持多種測試項目配置并可重復(fù)使用，批量測試 ● 自動存儲測試數(shù)據(jù)和圖片數(shù)據(jù) ● 具有設(shè)備自檢功能，提示甲方設(shè)備離線或不存在 ● 測試過程實時觀測，自動判別產(chǎn)品是否合格 ATECLOUD-IC芯片測試平臺方案搭建界面 ATECLOUD-IC芯片測試平臺運行測試界面 記錄報告 ● 歷史測試列表展示：已完成的歷史測試以列表形式展示，可按試驗的關(guān)鍵信息、時間等條件進行查詢。 ● 詳細歷史試驗信息：對每一次歷史試驗，可查看試驗基本信息、試驗時間信息、試驗報警記錄信息、試驗數(shù)據(jù)監(jiān)測信息，并進一步查詢每個監(jiān)測點的歷史記錄。 數(shù)據(jù)洞察，發(fā)揮數(shù)據(jù)無限價值 ● 數(shù)據(jù)權(quán)限：為不同管理層創(chuàng)建數(shù)據(jù)看板，高效生產(chǎn)； ● 自定義分析圖表：甲方可自定義分析圖表，多層級、多維度展現(xiàn)生產(chǎn)過程； ● 數(shù)據(jù)導(dǎo)入與對接：支持系統(tǒng)與外部數(shù)據(jù)導(dǎo)入，與其他系統(tǒng)數(shù)據(jù)對接； ● 大數(shù)據(jù)和云計算：充分利用大數(shù)據(jù)和云計算，發(fā)揮數(shù)據(jù)的無限價值； ● 生成圖表：支持生成圖表，方便數(shù)據(jù)分析。 數(shù)據(jù)總覽示意圖 數(shù)據(jù)圖表示意圖 ATECLOUD-IC平臺部分合作客戶 ATECLOUD-IC平臺應(yīng)用案例 上海某電源管理芯片生產(chǎn)企業(yè) 被測產(chǎn)品：電源管理芯片 ATECLOUD-Power部分測試項目展示 芯片半導(dǎo)體自動測試系統(tǒng)詳情：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html |
