同惠TH2851 LCR測試儀使用說明

agitek2008

一、儀器概述

同惠TH2851 LCR測試儀是一款高精度、寬頻段阻抗分析儀器，適用于電子元件（電感、電容、電阻）及材料的電學參數測量。其核心特點包括：

1. 頻率范圍：20Hz~120MHz，覆蓋低頻至高頻應用場景；

2. 測量精度：0.08%（全頻段），阻抗測量范圍1mΩ~100MΩ；

3. 多功能集成：支持阻抗（Z）、電容（C）、電感（L）、相位角（θ）、品質因數（Q）等參數測量；

4. 智能操作：10.1寸觸摸屏+SCPI指令集，兼容主流測試協議（如HP4284A、E4980A）。

二、安裝與啟動

1. 環境要求

避免強電磁干擾（遠離大功率設備），保持環境溫度15~30℃（推薦使用恒溫環境）；

電源：AC 220V±10%，50Hz，接地良好。

2. 硬件連接

連接測試夾具：根據元件類型選擇四端對（4T）或兩端口（SMD）夾具；

信號輸出：通過BNC接口連接被測元件（DUT），確保接觸電阻<0.1Ω。

3. 開機與校準

按下電源鍵，等待自檢完成（約30秒）；

首次使用需進行系統校準：

a. 進入“System→Calibration”菜單，選擇“Full Calibration”；

b. 按提示連接標準校準件（如0Ω、100pF），完成開路/短路校準。

三、基本操作流程

1. 參數設置

測量模式：

點測模式：單次測量固定參數（如C=10nF@1kHz）；

列表掃描：設置頻率/電平列表，批量測試（如1kHz~10MHz，步長1kHz）；

曲線掃描：動態分析參數隨頻率/電平的變化（如C-f曲線）。

關鍵參數配置：

參數	設置建議
頻率	根據元件應用場景選擇（如音頻選1kHz，射頻選10MHz）
AC信號電平	0.1V~1V（避免過驅動導致非線性誤差）
平均次數	高頻測量設為10次，降低隨機噪聲

2. 測量步驟

連接DUT至測試端口；

選擇測量模式（如“C-LCR”），設置頻率與電平；

觸發測量：按“Start”鍵或點擊觸摸屏圖標；

記錄結果：讀取顯示屏數值（如C=12.34nF±0.5%），或導出至USB/PC。

四、高級功能與技巧

1. 曲線掃描分析

應用場景：評估元件動態特性（如可調電阻的線性度）。

操作步驟：

a. 設置掃描參數：頻率范圍（如100Hz~1MHz）、掃描點數（≥100）；

b. 連接步進電機控制可調電阻滑動端；

c. 啟用“軌跡對比”功能，實時繪制C-f曲線；

d. 分析曲線平滑度與突變點（如接觸不良導致的阻抗跳變）。

2. 等效電路分析（ECA）

功能：通過數學模型解析元件內部結構（如寄生電容、串聯電阻）。

示例：

a. 選擇“ECA→3元件模型”（R-C串聯）；

b. 輸入實測參數（Z=50Ω@1kHz），系統自動擬合R、C值；

c. 驗證理論值與實測偏差，指導元件選型。

3. 溫度補償與抗干擾

溫度漂移修正：啟用“TempComp”功能，輸入元件溫度系數（如TC=25ppm/℃）；

電磁屏蔽：高頻測量時使用金屬屏蔽盒，降低外部干擾。

五、注意事項與故障診斷

1. 接觸電阻優化

定期清潔測試夾具鍍金觸點；

測量前短暫按壓夾具，消除機械接觸不穩定。

2. 高頻測量注意事項

降低信號電平（如10MHz時設為0.1V），避免寄生電容影響；

使用同軸電纜替代普通導線，減少傳輸損耗。

3. 常見故障排查

問題	可能原因	解決方案
測量值異常波動	接觸不良或DUT損壞	更換夾具/重新連接DUT
校準失敗	校準件失效或環境干擾	更換標準件/移至屏蔽環境重校準
曲線掃描出現臺階	滑動端磨損或機械振動	更換可調電阻/增加機械固定

六、應用案例：可調電阻線性度評估

1. 測試配置：

元件：10kΩ音頻電位器；

頻率：1kHz（典型音頻范圍）；

掃描方式：機械旋轉角度0°~360°，步長1°。

2. 步驟：

a. 將電位器連接至4T夾具，滑動端與旋轉機構同步；

b. 啟用曲線掃描，記錄R-角度曲線；

c. 計算線性誤差：

$\Delta R = \frac{R_{實測}-R_{理論}}{R_{滿量程}} \times 100\%$

d. 結果：若ΔR<±1%，判定線性度合格。

七、數據管理與維護

1. 數據導出：支持CSV、Excel格式，通過USB或LAN接口傳輸；

2. 儀器維護：

每月進行一次“自檢校準”（菜單：System→SelfTest）；

長期不使用時，建議每隔3個月通電1小時，防止電子元件老化。

同惠TH2851 LCR測試儀憑借高精度、寬頻段及智能操作特性，成為電子研發、生產質控的關鍵工具。通過規范的操作流程與技巧應用，用戶可高效獲取元件電學參數，為產品設計優化與故障分析提供可靠數據支撐。