同惠TH2851 LCR測試儀使用說明

agitek2008

一、儀器概述

同惠TH2851 LCR測試儀是一款高精度、寬頻段阻抗分析儀器，適用于電子元件（電感、電容、電阻）及材料的電學(xué)參數(shù)測量。其核心特點(diǎn)包括：

1. 頻率范圍：20Hz~120MHz，覆蓋低頻至高頻應(yīng)用場景；

2. 測量精度：0.08%（全頻段），阻抗測量范圍1mΩ~100MΩ；

3. 多功能集成：支持阻抗（Z）、電容（C）、電感（L）、相位角（θ）、品質(zhì)因數(shù)（Q）等參數(shù)測量；

4. 智能操作：10.1寸觸摸屏+SCPI指令集，兼容主流測試協(xié)議（如HP4284A、E4980A）。

二、安裝與啟動(dòng)

1. 環(huán)境要求

避免強(qiáng)電磁干擾（遠(yuǎn)離大功率設(shè)備），保持環(huán)境溫度15~30℃（推薦使用恒溫環(huán)境）；

電源：AC 220V±10%，50Hz，接地良好。

2. 硬件連接

連接測試夾具：根據(jù)元件類型選擇四端對(duì)（4T）或兩端口（SMD）夾具；

信號(hào)輸出：通過BNC接口連接被測元件（DUT），確保接觸電阻<0.1Ω。

3. 開機(jī)與校準(zhǔn)

按下電源鍵，等待自檢完成（約30秒）；

首次使用需進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)：

a. 進(jìn)入“System→Calibration”菜單，選擇“Full Calibration”；

b. 按提示連接標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件（如0Ω、100pF），完成開路/短路校準(zhǔn)。

三、基本操作流程

1. 參數(shù)設(shè)置

測量模式：

點(diǎn)測模式：單次測量固定參數(shù)（如C=10nF@1kHz）；

列表掃描：設(shè)置頻率/電平列表，批量測試（如1kHz~10MHz，步長1kHz）；

曲線掃描：動(dòng)態(tài)分析參數(shù)隨頻率/電平的變化（如C-f曲線）。

關(guān)鍵參數(shù)配置：

參數(shù)	設(shè)置建議
頻率	根據(jù)元件應(yīng)用場景選擇（如音頻選1kHz，射頻選10MHz）
AC信號(hào)電平	0.1V~1V（避免過驅(qū)動(dòng)導(dǎo)致非線性誤差）
平均次數(shù)	高頻測量設(shè)為10次，降低隨機(jī)噪聲

2. 測量步驟

連接DUT至測試端口；

選擇測量模式（如“C-LCR”），設(shè)置頻率與電平；

觸發(fā)測量：按“Start”鍵或點(diǎn)擊觸摸屏圖標(biāo)；

記錄結(jié)果：讀取顯示屏數(shù)值（如C=12.34nF±0.5%），或?qū)С鲋?/font>USB/PC。

四、高級(jí)功能與技巧

1. 曲線掃描分析

應(yīng)用場景：評(píng)估元件動(dòng)態(tài)特性（如可調(diào)電阻的線性度）。

操作步驟：

a. 設(shè)置掃描參數(shù)：頻率范圍（如100Hz~1MHz）、掃描點(diǎn)數(shù)（≥100）；

b. 連接步進(jìn)電機(jī)控制可調(diào)電阻滑動(dòng)端；

c. 啟用“軌跡對(duì)比”功能，實(shí)時(shí)繪制C-f曲線；

d. 分析曲線平滑度與突變點(diǎn)（如接觸不良導(dǎo)致的阻抗跳變）。

2. 等效電路分析（ECA）

功能：通過數(shù)學(xué)模型解析元件內(nèi)部結(jié)構(gòu)（如寄生電容、串聯(lián)電阻）。

示例：

a. 選擇“ECA→3元件模型”（R-C串聯(lián)）；

b. 輸入實(shí)測參數(shù)（Z=50Ω@1kHz），系統(tǒng)自動(dòng)擬合R、C值；

c. 驗(yàn)證理論值與實(shí)測偏差，指導(dǎo)元件選型。

3. 溫度補(bǔ)償與抗干擾

溫度漂移修正：啟用“TempComp”功能，輸入元件溫度系數(shù)（如TC=25ppm/℃）；

電磁屏蔽：高頻測量時(shí)使用金屬屏蔽盒，降低外部干擾。

五、注意事項(xiàng)與故障診斷

1. 接觸電阻優(yōu)化

定期清潔測試夾具鍍金觸點(diǎn)；

測量前短暫按壓夾具，消除機(jī)械接觸不穩(wěn)定。

2. 高頻測量注意事項(xiàng)

降低信號(hào)電平（如10MHz時(shí)設(shè)為0.1V），避免寄生電容影響；

使用同軸電纜替代普通導(dǎo)線，減少傳輸損耗。

3. 常見故障排查

問題	可能原因	解決方案
測量值異常波動(dòng)	接觸不良或DUT損壞	更換夾具/重新連接DUT
校準(zhǔn)失敗	校準(zhǔn)件失效或環(huán)境干擾	更換標(biāo)準(zhǔn)件/移至屏蔽環(huán)境重校準(zhǔn)
曲線掃描出現(xiàn)臺(tái)階	滑動(dòng)端磨損或機(jī)械振動(dòng)	更換可調(diào)電阻/增加機(jī)械固定

六、應(yīng)用案例：可調(diào)電阻線性度評(píng)估

1. 測試配置：

元件：10kΩ音頻電位器；

頻率：1kHz（典型音頻范圍）；

掃描方式：機(jī)械旋轉(zhuǎn)角度0°~360°，步長1°。

2. 步驟：

a. 將電位器連接至4T夾具，滑動(dòng)端與旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)同步；

b. 啟用曲線掃描，記錄R-角度曲線；

c. 計(jì)算線性誤差：

$\Delta R = \frac{R_{實(shí)測}-R_{理論}}{R_{滿量程}} \times 100\%$

d. 結(jié)果：若ΔR<±1%，判定線性度合格。

七、數(shù)據(jù)管理與維護(hù)

1. 數(shù)據(jù)導(dǎo)出：支持CSV、Excel格式，通過USB或LAN接口傳輸；

2. 儀器維護(hù)：

每月進(jìn)行一次“自檢校準(zhǔn)”（菜單：System→SelfTest）；

長期不使用時(shí)，建議每隔3個(gè)月通電1小時(shí)，防止電子元件老化。

同惠TH2851 LCR測試儀憑借高精度、寬頻段及智能操作特性，成為電子研發(fā)、生產(chǎn)質(zhì)控的關(guān)鍵工具。通過規(guī)范的操作流程與技巧應(yīng)用，用戶可高效獲取元件電學(xué)參數(shù)，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)優(yōu)化與故障分析提供可靠數(shù)據(jù)支撐。