T/R組件一般是指無線收發(fā)系統(tǒng)中射頻與天線之間的部分，主要被用于相控陣?yán)走_(dá)及通信領(lǐng)域。T/R組件的產(chǎn)品性能和技術(shù)要求較高，因此需要采取嚴(yán)格的測試措施來提升產(chǎn)品質(zhì)量。

T/R組件具有品種多、數(shù)量大和集成度高的特點。針對數(shù)字T/R組件的檢測手段，需要具備快速切換以適應(yīng)新產(chǎn)品的能力，較高的檢測效率以及較好的測試性能。當(dāng)前主流的檢測措施主要分為三大類，分別是光學(xué)檢測、針床措施及飛針測試。

1、 AOI光學(xué)檢測

光學(xué)測試儀通過攝像頭自動掃描被測器件，采集圖像，測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過圖像處理，發(fā)現(xiàn)缺陷。AOI系統(tǒng)誤判率和缺陷檢測靈敏度會受檢查參數(shù)的影響。光學(xué)檢測儀無法檢查隱形的焊接缺陷、無標(biāo)識元件和元件失效等問題，測試覆蓋率較低。

2、 針床測試

針床也叫ICT測試治具，利用電性能對在線元器件進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種非標(biāo)準(zhǔn)測試輔助夾具。它主要用于檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路、焊接等情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點。

3、飛針測試

飛針測試可實現(xiàn)高速移動和精確定位，測試探針連接至測量單元，測量單元包括驅(qū)動器（信號發(fā)生器和電源等）和傳感器（數(shù)字萬用表和頻率計數(shù)器等）。工作時測量單元通過飛針探針接觸被測電路的焊盤、器件引腳或接口，來對被測單元上的元件進(jìn)行多種電氣測量。

在針對數(shù)字T/R組件的測試中，相比光學(xué)檢測和針床測試等測試方法，飛針測試方法表現(xiàn)出明顯的優(yōu)勢。飛針測試通過軟件編程實現(xiàn)針對不同被測對象的適配，提高了新產(chǎn)品測試開發(fā)的效率；無需制作測試夾具，降低了測試成本；通過高精度步進(jìn)電機精確控制探針接觸點，可以實現(xiàn)很高的定位精度，提高測試分辨率；測量單元直接連接探針，可實現(xiàn)更高性能的測試。鑒于飛針測試具有可快速完成測試開發(fā)、測試成本較低和測試精度高等優(yōu)點，使之成為適合數(shù)字T/R組件檢測的高效措施之一。

在T/R模塊批量生產(chǎn)過程中，飛針測試可作為AOI光學(xué)檢測的補充，采用全檢或隨機生產(chǎn)抽取的方法，將光學(xué)檢測余留下的檢測盲點采用飛針測試進(jìn)行檢測，從而在功能測試前即可檢測出大部分故障組件，提高功能測試直通率。

以上就是飛針測試技術(shù)在T/R組件檢測中的簡要介紹，更多電子自動化測試技術(shù)請關(guān)注下期分享。