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By: Mario Simard 優化 OTDR 和 iOLM 軟件應用程序的性能，應從光路的低反射強度開始考慮。因為較高的反射強度可能會拉長盲區。在測試 FTTx 網絡時，反射強度對性能的影響更為顯著，因為分光器會造成較大損耗。與 UPC 連接器相反，APC 連接器通常維持較低的反射強度，即使在臟污或磨損的情況下依然如此，從而確保最優的測試性能。 OTDR 設計用于處理網絡上的高反射強度問題；但是，如果 OTDR 連接器上始終存在高反射強度，那么所有測試的性能都會受到影響，即使僅在 APC 的鏈路上也不例外。 反射強度對衰減盲區的影響 衰減盲區是一種規格指標，表示在反射點之后，OTDR 信號的光纖背向散射強度返回至低于 0.5 dB 的差值所需的距離。接收器電子器件和光電探測器都會導致在反射后出現恢復區。 在各廠商的 OTDR 規格指標中，衰減盲區的性能通常會被優越的反射條件而掩蓋（–45 dB、–55 dB 甚至 –65 dB，具體取決于 OTDR 制造商）。眾所周知，反射強度水平會直接影響 OTDR 盲區，隨著反射強度的升高，盲區會變得更長。這是因為連接器反射強度可能比 OTDR 測得的背向散射信號強度高出很多數量級。 好的 UPC 連接器反射強度為 –55 dB，產生的信號峰值可能比 5 ns 脈沖的光纖背向散射（在 1550 nm 下約為 –75 dB）高 100 倍。不好的 UPC 連接器（反射強度通常為 –45 至 –25 dB）產生的信號峰值可能比光纖背向散射高 1000 至 100 000 倍。由于反射強度對背向散射的比值范圍如此之大，因此顯而易見的是，衰減盲區高度依賴于連接器反射強度。 
反射強度對 PON 盲區的影響 PON 盲區的定義與衰減盲區非常相似，不同的是 PON 適用于具有顯著損耗值的事件（而衰減盲區通常適用于損耗可忽略的事件）。與衰減盲區類似，PON 盲區定義為 OTDR 信號的背向散射強度達到低于 0.5 dB 所需的距離。 我們以 1:32 分光器為例。此類分光器的正常損耗大約為 16 dB。假設使用 50 ns 脈沖來測試分光器，分光器之前的背向散射強度為 –65 dB，分光器之后為 –97 dB（因為 OTDR 測試信號在分光器中來回傳輸，所以在經過分光器之后，背向散射強度比之前低 32 dB）。–45 dB 的反射強度比經過分光器之后的背向散射強度高出 2 000 000 倍，該數值非常大。OTDR 檢測器要在 –45 dB 的反射強度之后“恢復”至背向散射強度，需要很長時間。顯然，在反射強度高于 –45 dB 的情況下結果更糟。
連接器反射強度：APC 與 UPC 對比 如我們所見，當損耗較大的分光器之前的反射強度高時，PON 盲區會顯著增大。清潔的全新 UPC 連接器的反射強度水平較佳（通常低于 –55 dB）。但是，只要這些連接器磨損或者只是清潔不當，便可能造成反射強度顯著升高。例如，臟污的連接器的反射強度可能比清潔的時候高出 1000 倍。 相反，APC 連接器具有內置斜面插針，本質上具備非常穩定的反射強度。即使磨損或臟污，仍然能夠保持較佳的反射強度水平（通常優于 –50 dB）。
反射強度對測量的影響 當 OTDR 和分光器之間的鏈路上的反射強度較高時，PON 盲區會更長。更長的 PON 盲區會限制對靠近分光器的事件元素的區分能力。在下面的范例中，三個事件（標記為 1、2 和 3）在反射強度較高時會被合并在一起。
降低擁有成本 測試儀器上出現磨損或臟污的連接器是絕不可取的。UPC 和 APC 連接器在磨損或臟污的情況下都會產生額外損耗。這種額外損耗會迫使 OTDR 用戶選擇更大的脈沖來測試網絡。如果額外損耗為 1 或 2 dB，則仍然可能運行 OTDR 并獲得較佳的結果。但是，反射強度就另當別論了。 測試 FTTx 網絡時，避免任何不必要的反射十分重要。帶有損壞的 UPC 連接器的 OTDR 對于測試較短的 FTTx 網絡幾乎無效。另一方面，輕微受損的 APC 連接器（例如，造成的額外損耗為 1 或 2 dB 的損壞）仍然能夠工作，因為反射強度仍然會保持在 –50 dB 范圍內。 總而言之，帶有 APC 連接器的 OTDR 能實現連續測量和穩定測試，維修（更換連接器）頻率更低。此外，使用 UPC 連接器的網絡可以輕松地使用混合測試跳線進行測試（OTDR/iOLM 端使用 APC，網絡端使用 UPC）。因此，EXFO 強烈推薦對 OTDR 使用 APC 連接器，使其成為 iOLM 應用的必備設備。 |
