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隨著技術(shù)進(jìn)步以摩爾定律的速度*1快速發(fā)展，測試測量任務(wù)變得越來越困難。高性能應(yīng)用，特別是要求芯片檢定、串行數(shù)據(jù)一致性測試、光學(xué)調(diào)制分析、雙倍數(shù)據(jù)速率（DDR）存儲器和寬帶RF檢驗的應(yīng)用，需要以前不能實現(xiàn)的測試測量功能，包括把杰出的性能（帶寬和采樣率）和靈活性（端接電壓和靈敏度）結(jié)合起來，而又不會給信號保真度帶來負(fù)面影響。 下載： 
201401505.pdf
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