為什么燒錄Nand Flash經(jīng)常失敗?為什么燒錄成功了，一部分Nand芯片貼板之后系統(tǒng)卻運(yùn)行不起來?…，等等，問了那么多為什么，那我反問一個問題：你了解Nand Flash的特性及其燒錄關(guān)鍵點(diǎn)嗎? 一、Nand flash的特性 1、位翻轉(zhuǎn) 在 NAND 閃存是通過對存儲單元(Cell)進(jìn)行充電來完成數(shù)據(jù)存儲的，存儲單元的閾值電壓就對應(yīng)著數(shù)據(jù)值。當(dāng)讀取的時候，通過將它的閾值電壓與參考點(diǎn)對比來獲得其數(shù)據(jù)值。對SLC 而言，就只有兩種狀態(tài)和一個參考點(diǎn)。而對于2-Bits 的MLC 而言，它有4 種狀態(tài)和三個參考點(diǎn)。TLC就更多狀態(tài)和參考點(diǎn)。當(dāng)讀出的數(shù)據(jù)值與編程時數(shù)據(jù)值對應(yīng)的閾值電壓不相匹配時，表明數(shù)據(jù)發(fā)生了位翻轉(zhuǎn)，就帶來了可靠性問題。導(dǎo)致位翻轉(zhuǎn)的最常見原因是“編程干擾”導(dǎo)致的閾值電壓漂移。 2、存儲結(jié)構(gòu) Nand 閃存由多個Block組成，每一個Block又由多個Page組成，Page的大小一般為512+16Bytes 、2K+64Bytes以及4096+128Bytes，Page是讀取和編程的基本單位，而擦除的基本單位是Block。 NAND Flash的頁，包含主區(qū)(Main Area)和備用區(qū)(Spare Area)兩個域，“主區(qū)”也常稱作數(shù)據(jù)區(qū)，備用區(qū)是保留區(qū)域，一般用來標(biāo)記壞塊(bad block)和存放ECC的值，當(dāng)然有些文件系統(tǒng)使用備用區(qū)記錄擦除次數(shù)、文件組織數(shù)據(jù)等。 圖1.1 為頁大小為2048+64的閃存存儲結(jié)構(gòu) 3、壞塊及ECC 位翻轉(zhuǎn)的發(fā)生是隨機(jī)的，且比特誤碼的數(shù)量會隨著擦寫次數(shù)的增加而增加。但是只要比特誤碼的數(shù)量在ECC 能夠糾正的范圍內(nèi)，數(shù)據(jù)的完整性就始終有保障。在有些點(diǎn)，每頁的比特誤碼有可能很接近ECC 所能糾正的極限，NAND 的控制系統(tǒng)必須嚴(yán)防比特誤碼超過可糾錯的范圍，否則，就可能造成數(shù)據(jù)丟失或者系統(tǒng)無法正常工作。因此，這些塊必須要標(biāo)記為壞塊。壞塊永遠(yuǎn)不應(yīng)該再用來存儲數(shù)據(jù)。由于壞塊的產(chǎn)生是不可避免的，NAND 制造商在對裸片測試時會選擇對某些塊進(jìn)行壞塊標(biāo)記，而不是放棄整個裸片，所以大多數(shù)NAND 在出廠時就已經(jīng)存在標(biāo)記為壞塊的塊。如果一個NAND 的塊被標(biāo)記為壞塊，那么NAND 的容量就永久性的減小了。 二、Nand系統(tǒng)裸片量產(chǎn)燒錄的關(guān)鍵點(diǎn) 由于Nand flash芯片的特性，以其作為存儲介質(zhì)時必須對這些特性進(jìn)行恰當(dāng)處理，這樣系統(tǒng)才能正常運(yùn)行。系統(tǒng)設(shè)定各分區(qū)數(shù)據(jù)在Nand芯片的存儲布局，并且在存儲驅(qū)動層對Nand進(jìn)行位糾錯、壞塊管理等處理，這些信息需要系統(tǒng)/驅(qū)動工程師明確。 研發(fā)階段或小批量生產(chǎn)階段，常采用在板燒錄的方式，原理是將boot通過串口下載到內(nèi)存跑起來，由boot從SD卡或網(wǎng)絡(luò)將內(nèi)核鏡像、文件系統(tǒng)鏡像等數(shù)據(jù)燒錄到Nand flash芯片。 為了提高生產(chǎn)效率或別的方面考慮，會使用燒錄器對Nand flash裸片進(jìn)行量產(chǎn)燒錄，由于燒錄器廠家并不知道存儲驅(qū)動層對Nand各種特性的處理方式，所以不加正確配置就進(jìn)行燒錄的話，往往出現(xiàn)以下情況：1. 燒錄失敗，經(jīng)常是校驗通不過;2. 燒錄通過，但是部分芯片貼板之后系統(tǒng)運(yùn)行不起來，或者運(yùn)行起來某些模塊出現(xiàn)一些錯誤與異常。這些大多不是燒錄器本身的問題，而是裸片燒錄Nand系統(tǒng)時幾個重要的關(guān)鍵點(diǎn)沒有處理好，或者說沒有和目標(biāo)系統(tǒng)相關(guān)處理一致。這些關(guān)鍵點(diǎn)包括： 1) 壞塊處理策略 2) 分區(qū)(Partition) 3) 糾錯碼(Error Correction Codes，ECC) 當(dāng)然，影響燒錄的還有其他因素，比如備用區(qū)的使用情況、未用好快的格式化以及動態(tài)元數(shù)據(jù)等，但我們這里只討論上面幾個比較普遍的因素。 1、壞塊處理策略 壞塊一般是根據(jù)芯片的壞塊標(biāo)記位置進(jìn)行識別的，而壞塊處理策略定義了在遇到壞塊時算法應(yīng)該如何處理。策略算法負(fù)責(zé)將本來應(yīng)該寫到壞塊的內(nèi)容寫到其它可選的好塊中。最常用的壞塊處理策略是跳過壞塊，其他典型的還有帶BBT的跳過壞塊及預(yù)留塊區(qū)等。 跳過壞塊的處理策略是最基本最常用的壞塊替換策略。當(dāng)燒錄中遇到壞塊時，算法簡單地跳過壞塊，而將數(shù)據(jù)寫入下一個好塊。它會造成物理數(shù)據(jù)和邏輯數(shù)據(jù)的位置偏移，這通常需要分區(qū)來解決這個問題。 2、分區(qū)(Partition) 采用類跳過壞塊的處理策略的Nand系統(tǒng)，常常會把存儲區(qū)分成若干個不同的物理區(qū)域，這就是我們說的分區(qū)，概念上很像電腦硬盤的分區(qū)。使用分區(qū)使得你有能力確保你的數(shù)據(jù)可以存到預(yù)先指定的物理塊區(qū)內(nèi)，即便在這之前發(fā)現(xiàn)了一些壞塊。這對一些底層軟件組件比如啟動引導(dǎo)程序和某些必須很容易定位的文件系統(tǒng)驅(qū)動程序來說，是非常有幫助的。 當(dāng)使用跳過壞塊的替換策略時，壞塊會導(dǎo)致數(shù)據(jù)順移到下一個好塊。如果設(shè)置了分區(qū)，就可以指導(dǎo)燒錄器確定數(shù)據(jù)的邊界，確保數(shù)據(jù)文件不會侵占鄰近的分區(qū)。 圖2.2.1就是典型的嵌入式Linux系統(tǒng)的分區(qū)情況。 圖2.2.1 典型的嵌入式Linux系統(tǒng)分區(qū)情況 3、糾錯碼(Error Correction Codes，ECC) 針對不同工藝、容量的NAND存儲系統(tǒng)采用適當(dāng)?shù)腅CC算法是應(yīng)該的，要保證系統(tǒng)的可靠性，甚至是必須的。ECC糾錯碼一般存放在備用區(qū)中，對一整頁或?qū)㈨摲殖扇舾晒?jié)的數(shù)據(jù)進(jìn)行計算而得。數(shù)據(jù)燒錄之前需要準(zhǔn)備好ECC(硬件ECC除外)，如果是純數(shù)據(jù)則需要使用ECC算法來生成。Nand裸片量產(chǎn)中，知道ECC算法的糾錯能力(糾錯位數(shù))是很重要的，因為要保證生產(chǎn)效率，燒錄器如果采用ECC來進(jìn)行校驗數(shù)據(jù)是不實際的，而通過簡單數(shù)據(jù)比對就可以知道數(shù)據(jù)的位翻轉(zhuǎn)個數(shù)，如果翻轉(zhuǎn)個數(shù)范圍在ECC算法的糾錯范圍之內(nèi)，則認(rèn)為校驗應(yīng)該是通過的。 三、燒錄定制 對于以上關(guān)鍵點(diǎn)或其它特殊部分，如果燒錄器軟件沒有支持的相應(yīng)的方案，需要聯(lián)系原廠進(jìn)行相關(guān)算法的定制，比如壞塊處理方案、ECC方案等。 |
