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2009年最佳測(cè)試產(chǎn)品獎(jiǎng)項(xiàng)，面向電子測(cè)試與測(cè)量行業(yè)的重要的創(chuàng)新性產(chǎn)品和服務(wù)。2009年“Best in Test”獎(jiǎng)項(xiàng)共設(shè)有15個(gè)應(yīng)用及產(chǎn)品類別，該獎(jiǎng)項(xiàng)是由Test & Measurement World的讀者投票產(chǎn)生，其中，年度測(cè)試產(chǎn)品——美國(guó)國(guó)家儀器的Wi-Fi數(shù)據(jù)采集設(shè)備獲得最高讀者投票數(shù)。 年度測(cè)試產(chǎn)品 Wi-Fi 數(shù)據(jù)采集設(shè)備 National Instruments www.ni.com NI無(wú)線數(shù)據(jù)采集(Wi-Fi DAQ)設(shè)備具有內(nèi)置的信號(hào)調(diào)理功能和商用安全性最高的網(wǎng)絡(luò)，能夠?qū)崟r(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，完成性能卓越且簡(jiǎn)便易用的遠(yuǎn)程無(wú)線傳感器測(cè)量。NI無(wú)線數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備通過(guò)結(jié)合IEEE 802.11無(wú)線或以太網(wǎng)通信、直接的傳感器連接以及靈活的NI LabVIEW軟件，實(shí)現(xiàn)著對(duì)電氣、物理、機(jī)械和聲音信號(hào)的遠(yuǎn)程監(jiān)控。 NI無(wú)線數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備每通道的數(shù)據(jù)讀寫速率超過(guò)50 kS/s，并具有高達(dá)24位的分辨率。此外，經(jīng)NIST核準(zhǔn)的內(nèi)置式128位AES加密和高級(jí)網(wǎng)絡(luò)認(rèn)證方法，確保著最高的商用網(wǎng)絡(luò)安全性。 借助靈活的NI LabVIEW圖形化編程和普遍使用的802.11網(wǎng)絡(luò)設(shè)施，無(wú)線數(shù)據(jù)采集(Wi-Fi DAQ)可輕松地將無(wú)線連接，納入基于PC的新型測(cè)控系統(tǒng)或現(xiàn)有測(cè)控系統(tǒng)。工程師可以利用無(wú)線數(shù)據(jù)采集C系列測(cè)量模塊，交替使用在數(shù)個(gè)平臺(tái)（包括：NI CompactDAQ和CompactRIO、NI單模塊USB外盒）上，實(shí)現(xiàn)各種測(cè)量和控制應(yīng)用。 NI無(wú)線數(shù)據(jù)采集(DAQ)設(shè)備包括五款無(wú)線設(shè)備模塊以及眾多附件，價(jià)格為699美元起。 最佳測(cè)試時(shí)間獎(jiǎng) ATPG軟件 Mentor Graphics www.mentor.com TestKompress ATPG（自動(dòng)測(cè)試格式生成）軟件包括嵌入式測(cè)試壓縮，以提供高質(zhì)量低成本掃描測(cè)試。隨著測(cè)試需求的增長(zhǎng)，在高產(chǎn)量環(huán)境下保持高質(zhì)量IC測(cè)試需要進(jìn)行壓縮。很顯然，在針對(duì)更高階IC技術(shù)時(shí)，使用測(cè)試向量是必要的需求。 通過(guò)TestKompress，測(cè)試接入I/O口可以減少三個(gè)管腳，簡(jiǎn)化了測(cè)試，增加了器件的封裝選擇性，使標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更加流暢。嵌入式確定性測(cè)試（EDT）技術(shù)可適用于從微處理器至汽車電子的廣泛設(shè)計(jì)類型，給出一致的測(cè)試結(jié)果，不會(huì)出現(xiàn)損失基本覆蓋率。 TestKompress在2001年時(shí)被作為額外的格式壓縮功能引入FastScan ATPG工具。最初的壓縮等級(jí)為10倍，目前已發(fā)展至超過(guò)100倍。另外的功能包括，分布式處理以獲得更快的執(zhí)行能力，無(wú)需特殊格式就可指導(dǎo)錯(cuò)誤診斷。設(shè)計(jì)經(jīng)過(guò)多次壓縮后，晶圓測(cè)試、封裝測(cè)試和自建內(nèi)測(cè)試的工作可以明顯得到優(yōu)化。非矢量測(cè)試中，可以加入邏輯自測(cè)試（LBIST）來(lái)進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試。 音頻/視頻及多媒體 多媒體測(cè)試系統(tǒng) VI Technology www.vi-tech.com 測(cè)試、設(shè)計(jì)和制造部門可以應(yīng)用多媒體測(cè)試系統(tǒng)（MMTS）來(lái)測(cè)試多媒體設(shè)備的模擬和數(shù)字音/視頻性能。MMTS系統(tǒng)提供硬件和軟件測(cè)試所需的所有通用音頻、視頻信號(hào)及數(shù)字協(xié)議，通過(guò)資源共享以及雙核處理器的應(yīng)用可以優(yōu)化測(cè)試時(shí)間。 電路板及系統(tǒng)測(cè)試和配置 覆蓋擴(kuò)展（Cover-Extend）技術(shù) Agilent Technologies Cover-Extend覆蓋擴(kuò)展技術(shù)是專為面對(duì)越來(lái)越復(fù)雜的印制電路板組件（PCBA）的制造商提供的測(cè)試覆蓋工具，是電子制造行業(yè)兩種已建立測(cè)試方法學(xué)：邊界掃描和VTEP無(wú)矢量測(cè)試的混合。與要求在印制電路板組件(PCBA)上通過(guò)物理測(cè)試點(diǎn)注入測(cè)試激勵(lì)信號(hào)的傳統(tǒng)VTEP測(cè)試不同，Cover-Extend覆蓋擴(kuò)展不需要物理測(cè)試點(diǎn)，而是依靠邊界掃描單元所提供的激勵(lì)源。為在線測(cè)試(ICT)用戶提供了不需要物理測(cè)試點(diǎn)的受限接入測(cè)試解決方案。 邊界掃描 T 37x7 RMI儀器 JTAG Technologies www.jtag.com JT 37x7 RMI (機(jī)架安裝式) 儀器是完整的邊界掃描控制器，采用標(biāo)準(zhǔn)的19英寸x1U外包裝，兼容任何機(jī)架安裝式功能測(cè)試系統(tǒng)。RMI支持所有的邊界掃描測(cè)試應(yīng)用，包括IEEE 1149.6高級(jí)數(shù)字網(wǎng)絡(luò)測(cè)試以及閃存和可編輯邏輯器件的在系統(tǒng)編程(ISP)。RMI有4個(gè)完全兼容的邊界掃描測(cè)試接入端口(TAP)，可以向目標(biāo)設(shè)備提供優(yōu)秀的信號(hào)完整性能。另外，RMI還提供256個(gè)可編程I/O，進(jìn)一步增強(qiáng)了測(cè)試覆蓋率。 EDA/DFx/測(cè)試數(shù)據(jù)分析軟件 Global Test Operations 解決方案 OptimalTest www.optimaltest.com Global Test Operations 解決方案是專為fabless公司和IDM公司提供的測(cè)試管理軟件，提供了一個(gè)全球測(cè)試運(yùn)行和過(guò)程集成視圖。為半導(dǎo)體測(cè)試提供了企業(yè)級(jí)、統(tǒng)一的IT支持。允許使用者模擬、控制和管理從晶圓到最終測(cè)試的越來(lái)越多的分布式制造功能。 通用儀器（非示波器） Fluke 287 真有效值電子記錄多用表 Fluke www.fluke.com 具有趨勢(shì)捕獲功能的 Fluke 287 真有效值電子記錄多用表能夠快速記錄設(shè)計(jì)性能，并以圖形方式顯示發(fā)生的情況。 憑借其獨(dú)特的記錄和圖形功能，用戶不必再將記錄的讀數(shù)下載至 PC 來(lái)分析趨勢(shì)。 Fluke 287 為手持式多用表融入了前所未有的精度和易用性，大大提升了用戶解決問(wèn)題的能力。 它是要求高精度的苛刻應(yīng)用領(lǐng)域的終極手持式測(cè)量工具。 機(jī)器視覺與檢測(cè) OptiCon TurboLine AOI系統(tǒng) GOEPEL electronic www.goepel.com 用于大批量印制電路板生產(chǎn)高端檢測(cè)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)——OptiCon TurboLine，通過(guò)多個(gè)攝像裝置以及Goepel的擴(kuò)展色技術(shù)（Extended Colour）取得高故障檢測(cè)。所有的組件和功能可以自定義配置來(lái)迎合特殊的檢測(cè)需求，并具有可升級(jí)能力。 網(wǎng)絡(luò)物理層測(cè)試 C-OTDR (MW90010A) 光時(shí)域反射儀 Anritsu Company www.us.anritsu.com MW90010A是目前全世界唯一的可以用來(lái)測(cè)試海底光纜的相干光時(shí)域反射儀，其可以測(cè)試超長(zhǎng)距離的海底光纜，測(cè)試距離可以達(dá)到12,000Km，是理想的海底光纜測(cè)試與維護(hù)工具。MW90010A采用相干檢測(cè)技術(shù)，利用光纖下行鏈路作為測(cè)試接口，測(cè)試背向反射光，可以穿透所有的光中繼器，顯示事件的損耗、距離等。 示波器 WavePro 7 Zi Series LeCroy Corporation www.lecroy.com WavePro 7 Zi系列把杰出的信號(hào)保真度與從每個(gè)性能方面都使速度達(dá)到最大的架構(gòu)結(jié)合在一起，從1.5 GHz直到6 GHz帶寬，提供了全新的示波器體驗(yàn)。每條通道提供50Ω和1MΩ輸入及高速前端放大器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器的四個(gè)輸入。全新的X-Stream II結(jié)構(gòu)提供了長(zhǎng)存儲(chǔ)器性能。再加上力科靈活深入的分析工具箱，WavePro 7 Zi系列為電子信號(hào)設(shè)計(jì)、調(diào)試、驗(yàn)證、分析和一致性測(cè)試提供了極佳的體驗(yàn)。 協(xié)議分析儀 TestCenter 3000 模塊組 Spirent Communications www.spirentcom.com 今天多功能、高密度企業(yè)級(jí)路由器和開關(guān)，帶有先進(jìn)的安全特性及業(yè)務(wù)識(shí)別等功能。測(cè)試數(shù)據(jù)、視頻和語(yǔ)音的上層協(xié)議變得越來(lái)越重要，以提高產(chǎn)品的質(zhì)量。TestCenter 3000系列模塊通過(guò)1G端口提供了Layer 2-7測(cè)試。提供了1G端口的最高端口密度和性能，確保真實(shí)網(wǎng)絡(luò)中的真實(shí)競(jìng)爭(zhēng)與驗(yàn)證。 RF/微波設(shè)備：應(yīng)用及標(biāo)準(zhǔn) DigRF V4 Exerciser/Analyzer Agilent Technologies www.agilent.com WiMAX 和 LTE 技術(shù)設(shè)備中，集成GHz級(jí)串行互聯(lián)的RFIC為L(zhǎng)TE接口的無(wú)線物理層測(cè)試增大了數(shù)字和協(xié)議的測(cè)試挑戰(zhàn)。Agilent的RDX（無(wú)線電數(shù)字交叉域）平臺(tái)首次提供了端到端的數(shù)字射頻（DigRF）V4 測(cè)試解決方案。它為射頻集成電路（RFIC）和基帶 IC（BB-IC）的設(shè)計(jì)人員以及無(wú)線手機(jī)集成商提供全面的激勵(lì)和分析能力。 RF/微波通用測(cè)試設(shè)備 6.6 GHz PXIe RF 模塊化儀器 National Instruments www.ni.com 配有高瞬時(shí)帶寬的NI PXIe-5663 6.6 GHz RF模塊化儀器，專為自動(dòng)化測(cè)試而優(yōu)化。結(jié)合高性能PXI控制器和高速PCI Express數(shù)據(jù)總線，該矢量信號(hào)發(fā)生器最高測(cè)試速度可達(dá)傳統(tǒng)儀器的10倍。PXIe-5663與PXIe-5673 6.6 GHz RF 矢量信號(hào)發(fā)生器均為軟件定義的模塊化儀器，可兼容PXIe-1075 的18 槽高頻寬機(jī)箱。 半導(dǎo)體測(cè)試 EDGE閃爍噪聲測(cè)量系統(tǒng) Cascade Microtech www.cascademicrotech.com 隨著各新型半導(dǎo)體制程節(jié)點(diǎn)開發(fā)成本的急劇上升以及產(chǎn)品上市時(shí)間壓力的增加，今天的測(cè)量關(guān)鍵參數(shù)諸如閃爍噪聲，已不再允許錯(cuò)誤產(chǎn)生，制造商應(yīng)體認(rèn)到這些市場(chǎng)現(xiàn)實(shí)情況及其對(duì)于半導(dǎo)體制造的影響。EDGE閃爍噪聲測(cè)量系統(tǒng)，提供擷取閃爍噪聲數(shù)據(jù)的簡(jiǎn)便方法；最寬帶率范圍高達(dá)30MHz，最低的背景噪聲一般低于1.2nV/rtHz在100KHz和以上。如此寬的頻率范圍和低背景噪聲能使客戶能設(shè)備性能提升、得到較高的利潤(rùn)并縮短產(chǎn)品上市的時(shí)間。 測(cè)試附件及連接設(shè)備 W2630A 系列DDR2 DDR3 BGA 探針 Agilent Technologies www.agilent.com Agilent公司其W2630A系列DDR2、DDR3 BGA探針是業(yè)內(nèi)首款BGA（ball-grid array）探針，能夠直接偵測(cè)DRAM的錫球。搭配示波器和邏輯分析儀使用，可進(jìn)行物理層和功能測(cè)試，DDR BGA探針可以進(jìn)行完整的兼容性與通訊協(xié)議驗(yàn)證測(cè)試。 測(cè)試擴(kuò)展及測(cè)試管理軟件 VEE Pro 9.0 Agilent Technologies www.agilent.com Agilent VEE Pro 9.0 是一套使用簡(jiǎn)易的互動(dòng)式圖形化測(cè)試及測(cè)量軟件，為量測(cè)與分析提供了一條快速而簡(jiǎn)易的途徑。此軟件可建立靈活的直方圖，讓您的儀器得到更好的控制，以縮短測(cè)試開發(fā)的時(shí)間，并提升工程設(shè)計(jì)及生產(chǎn)制造效率。VEE 9.0可視化、數(shù)據(jù)流編程軟件允許用戶選擇使用多線程的解決方案。與直觀的圖形拖放編程相配合，多線程更易于使用并更節(jié)省時(shí)間。 |
