NI半導體測試系統（STS）

發布時間：2018-7-27 11:37 發布者：eechina

半導體測試系統（STS）系列產品是一套利用NI測試技術的產品級測試系統，適用于半導體生產測試環境。STS在完全封閉的測試頭里面整合了NI PXI平臺、TestStand測試管理軟件以及LabVIEW圖形化編程工具。它采用“集成到測試頭”的設計，把產品的所有關鍵測試資源整合在儀器，這些測試資源包括系統控制器、直流交流電源、射頻儀器、待測設備接口以及分揀儀器和探頭接口。這樣的緊湊型設計減小了額外的占地空間，降低了功耗，減輕了傳統ATE測試員的維護負擔，從而節約了測試成本。此外，STS采用開放的、模塊化的設計，使您可以利用最新的工業標準的PXI模塊，獲得更多的儀器資源和更強大的計算能力。

資料下載：

NI半導體測試系統STS_Flyer_CN.pdf (1.14 MB)

本文地址：http://www.qingdxww.cn/thread-542978-1-1.html 【打印本頁】

本站部分文章為轉載或網友發布，目的在于傳遞和分享信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責；文章版權歸原作者及原出處所有，如涉及作品內容、版權和其它問題，我們將根據著作權人的要求，第一時間更正或刪除。