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中等容量和大容量的STM32F101xx和STM32F103xx基于Cortex™-M3的微控制器擁有采樣頻率為1M/s和12位分辨率的多個(gè)ADC模塊，這樣的分辨率可以滿足多數(shù)應(yīng)用的需要，但在某些要求高精度的應(yīng)用場合，對輸入信好使用過采樣的技術(shù)，可以節(jié)省外部器件的使用，減低功耗和成本。 文中給出了2種提高ADC分辨率的方法，它們都是基于同樣的原理：以最大1MHz的速率對輸入信號進(jìn)行多次采樣，在通過取平均的方式提高分辨率。 文中討論的方法和固件適用于所有中等容量和大容量的STM32F10xxx產(chǎn)品。在本文的后面還介紹了一些特殊的技巧，這些技巧是專門針對中等容量和大容量的STM32F103xx，和大容量STM32F101xx的特點(diǎn)。 應(yīng)用筆記分為2個(gè)部分，第1部分介紹了如何使用過采樣提高ADC的分辨率，第2部分是不同方法的實(shí)現(xiàn)指南，并且給出了在STM32F101xx和STM32F103xx產(chǎn)品上實(shí)現(xiàn)這些方法的流程圖。 |
使用過采樣提高STM32F101xx和STM32F103xx的ADC分辨率.pdf
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用過采樣提高STM32F101xx和STM32F103xx的ADC分辨率(程序包).zip
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