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GIOTTO MD乳腺機采用的是非晶硒平板探測器：非晶硒平板探測器具有最優的MTF值，可以獲得高空間分辨率的圖像，以滿足乳腺檢查對細節較高的要求但是它對溫度要求很高，如果溫差過大，就會導致探測器產生偽影。因此，在實際工作中要對探測器定期進行校準。 1 探測器校準的目的和方法 探測器校準的目的是對探測器的每個像素自動進行修正補償。校準模式分為2種：Long Calibration和Fast Calibration。Long Calibration是在無濾線柵的情況下.使用大焦點曝光采集圖像的長時間校準方式(需要50次以上曝光)。FastCalibration是只需要10次左右曝光的快速校準方式。校準前，需要準備一塊大于探測器表面的4cm厚的PMMA體模。機房溫度穩定在20—30℃，仔細清潔探測器表面、濾線柵、壓迫器托盤、準直器內的折射鏡和濾過板。探測器校準的方法和步驟如下： (1)開啟空調，設置溫度為25℃，并且保證溫度恒定10h以上。開啟主機預熱1h以上，然后關閉主機。 (2)開啟主機控制臺左側的電源開關.等待10S以后.連續按5次“OFF”按鍵進入維修模式，然后再按“ON”按鍵開啟主機。 (3)連接自動曝光信號電纜，拆下壓迫器和濾線柵，把PMMA體模小心放在探測器表面。 (4)進入維修程序：D：Wrogram Files\IMSkAcquisition\Components the program GMDservice.exe.選擇“Operator Proce—dure”.輸入密碼后點擊“OK”進入維修程序窗口，選擇“Calibration”，系統開始自動曝光并采集數據。 (5)“Calibration”結束后，選擇“Defects Calibration”.大約10次曝光后結束。 (6)選擇“Test Aequistion”，設置曝光參數為28kV、30mAs、Mo Filter，進行曝光采集圖像， (7)選擇“Fast Calibration”。結束后選擇“Test Acquistion”，設置曝光參數為28 kV、60 mAs、Mo/Rh Filter.進行曝光采集圖像： (8)所有校準都結束后.將校準數據備份存盤.路徑為D：LProgram Files\lMS\Acquisition\Images\Calibration。 (9)將體模收好，拆除自動曝光信號電纜.退f}{維修模式.關閉主機后重新啟動。 2故障分析及處理 通過上述的校準方法.可以排除大部分的偽影故障：下面是幾例圖像偽影故障的處理介紹。 2.1 故障一 2.1.1 故障現象 曝光后.圖像上有不規則點狀高密度偽影.時有時無且數量不定。 2.1.2分析處理 根據故障現象，首先懷疑偽影是由灰塵導致。仔細擦拭平板探測器和乳腺壓迫器托盤，曝光試驗，圖像上仍然有偽影。經操作技師提示，在斜位攝影時，無偽影或偽影較少。取不同斜位角度進行曝光試驗，發現圖像上點狀偽影位置和數量均有變化。懷疑準直器內有異物導致偽影二小心拆開準直器前蓋板，發現濾過板上面有散在的大小不一的F{色細小顆粒，故須清除異物。由于準直器是密封的.異物無法進入，只能來自它自身內部。仔細觀察發現，準直器內濾過板旋轉盤定位銷上的白色高分子材料有破損。清理并修復破損處，以避免再次脫落碎屑導致偽影：曝光試驗，圖像正常無偽影，故障排除。 2.2故障二 2.2.1 故障現象 曝光后，圖像有不規則偽影，有時呈線狀或條狀，有時為不規則馬賽克或大的斑塊狀偽影。 2.2.2分析處理 根據偽影的特點，懷疑是機房溫度差異過大造成的一經觀察發現.偽影大多是在剛開機或室溫較低時(18℃)出現.將機器開啟1h以上，空調設置在25℃并保持恒溫3h以上.曝光試驗，偽影消失.故障排除。 2.3故障三 2.3.1 故障現象 曝光后.圖像邊緣處有未曝光的白邊，遮擋了正常的乳腺組織影像.未曝光區域寬窄不定。 2.3.2 分析處理 根據故障現象，判斷該偽影是南準直器位置松動變化引起的：拆開準直器四周的蓋板，觀察發現球管窗口與準直器之間的長方形開口的金屬板松動，位置偏移，遮擋了X射線，從而導致部分區域沒有曝光。重新調整金屬板位置并固定好準直器，曝光試驗，圖像正常，故障修復。 2.4故障四 2.4.1 故障現象 曝光后，圖像上有橫豎2條白色亮線偽影，且邊緣銳利。 2.4.2分析處理 根據偽影特征.首先懷疑是溫度差異過大導致平板探測器工作異常而產生偽影。開啟空調，設置溫度為25℃，使室溫恒定10 h以上開啟主機，預熱1h后，曝光試驗，偽影仍然存在，故障排除環境溫度導致的故障=進入維修菜單GMD service/calibration.按程序進行探測器快速校準：校準完成后，用28kV、30mAs進行曝光試驗，偽影仍然存在。通過常規的校準程序不能去除偽影，說明探測器有壞道：進入GMD service/setup/detector settings程序，把壞道坐標標記出來，以去除偽影：橫豎偽影示意圖如圖1所示，將壞道的坐標值分別填人圖2中.按“添加”按鈕，然后按“關閉”按鈕退出程序：曝光實驗，偽影去除。 3小結 在攝影過程中，經常會產生偽影。因此.在圖像采集過程中，一定要確保X線路徑上無異物：同時，為了保證平板探測器工作正常，必須使空調24h運轉.保證機房內溫度恒定，定期檢測成像鏈上的機械部件，若有松動位置偏移等現象，及時調整固定。如果平板探測器的壞點或壞道數量太多就不能利用軟件插值的方法來去除偽影，應該考慮更換平板探測器。 以上有關醫療儀器維修知識由安泰儀器維修網整理發布，更多有關儀器維修知識歡迎訪問安泰儀器維修網（medical.agitekservice.com） |
