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作者：Minhaaz Shaik，產(chǎn)品應(yīng)用工程師 摘要 本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅(qū)動(dòng)器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性，我們可以通過(guò)增益和偏置調(diào)整來(lái)盡可能降低這些特性。本文描述如何執(zhí)行這些校準(zhǔn)，以改善電平設(shè)置性能。 簡(jiǎn)介 自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)描述用于一次對(duì)單個(gè)或多個(gè)器件執(zhí)行單次或一系列測(cè)試的測(cè)試儀器。不同類型的ATE測(cè)試電子器件、硬件和半導(dǎo)體器件。定時(shí)器件、DAC、ADC、多路復(fù)用器、繼電器和開關(guān)都是測(cè)試儀或ATE系統(tǒng)中的支持模塊。這些引腳電子器件可以利用精確的電壓和電流提供信號(hào)和電源。這些精密信號(hào)通過(guò)電平設(shè)置DAC進(jìn)行配置。在ATE產(chǎn)品系列中，有些引腳電子器件包含校準(zhǔn)寄存器，有些校準(zhǔn)設(shè)置存儲(chǔ)在片外。本文介紹DAC的功能、誤差，以及如何通過(guò)增益和偏置調(diào)整進(jìn)行校準(zhǔn)。 下載全文： 
【ADI技術(shù)文章】ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn).pdf
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