東芝電子元件及存儲(chǔ)裝置株式會(huì)社（“東芝”）今日宣布，進(jìn)一步擴(kuò)展Thermoflagger過(guò)溫檢測(cè)IC產(chǎn)品線---“TCTH0xxxE系列”。該系列可用于具有正溫度系數(shù)（PTC）熱敏電阻的簡(jiǎn)單電路中，用來(lái)檢測(cè)電子設(shè)備中的溫度升高，六款新產(chǎn)品于今日開(kāi)始支持批量出貨。
為了使電子設(shè)備按規(guī)定運(yùn)行，半導(dǎo)體和其他電子元件必須在設(shè)計(jì)參數(shù)范圍內(nèi)工作。內(nèi)部溫度是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)，特別是當(dāng)它高于設(shè)計(jì)流程中的假設(shè)溫度時(shí)，它就可能成為安全性和可靠性方面的一個(gè)主要問(wèn)題，因此需要過(guò)溫監(jiān)測(cè)解決方案來(lái)檢測(cè)任何溫度升高。 當(dāng)配置在具有PTC熱敏電阻（其電阻值隨溫度變化而變化）的簡(jiǎn)單電路中時(shí)，Thermoflagger過(guò)溫檢測(cè)IC不僅可以檢測(cè)溫度升高，還可以檢測(cè)置于熱源附近的PTC熱敏電阻的電阻變化，并在溫度過(guò)高時(shí)輸出FLAG信號(hào)。例如，當(dāng)Thermoflagger檢測(cè)到異常發(fā)熱情況并向MCU發(fā)送FLAG信號(hào)時(shí)，MCU將關(guān)閉設(shè)備或改變正在產(chǎn)熱的設(shè)備或半導(dǎo)體的運(yùn)行方式。通過(guò)串聯(lián)PTC熱敏電阻可同時(shí)在多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行過(guò)溫檢測(cè)。 這六款新產(chǎn)品分別是：TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述產(chǎn)品加上已經(jīng)發(fā)布的TCTH021BE和TCTH022BE，進(jìn)一步擴(kuò)展了TCTH0xxxE系列產(chǎn)品線，使該產(chǎn)品線增加至8款產(chǎn)品。通過(guò)提供對(duì)兩種類(lèi)型的PTCO輸出電流[1]的支持，新產(chǎn)品擴(kuò)大了PTC熱敏電阻的可選范圍，既可選擇推挽型或開(kāi)漏型FLAG信號(hào)輸出類(lèi)型[2]，也可選擇使用或不使用FLAG信號(hào)鎖存功能[3]。擴(kuò)大產(chǎn)品選擇范圍，可以實(shí)現(xiàn)低電流消耗的靈活電路設(shè)計(jì)。 新產(chǎn)品采用小型，符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SOT–553封裝（東芝的封裝名稱(chēng)為：ESV），確保TCTH0xxxE系列支持用戶(hù)為成套電子設(shè)備輕松配置過(guò)溫檢測(cè)系統(tǒng)，并助力實(shí)現(xiàn)尺寸和功耗的雙重改善。 除了已經(jīng)發(fā)布的參考設(shè)計(jì)過(guò)溫檢測(cè)IC Thermoflagger的應(yīng)用電路（TCTH021BE／開(kāi)漏型）之外，東芝在其官網(wǎng)上又發(fā)布了新版參考設(shè)計(jì)：過(guò)溫檢測(cè)IC Thermoflagger應(yīng)用電路（TCTH021AE／推挽型）。 東芝使用村田制作所（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“村田”）提供的PTC熱敏電阻的相關(guān)技術(shù)信息來(lái)實(shí)現(xiàn)過(guò)溫檢測(cè)解決方案。村田建議將Thermoflagger與PTC熱敏電阻結(jié)合使用。 村田的推薦IC列表 https://www.murata.com/products/ ... we-f_tss_tes_tmp_xx 村田的PTC熱敏電阻 https://www.murata.com/products/ ... we-f_tss_tes_tmp_xx 未來(lái)，東芝將繼續(xù)擴(kuò)展其產(chǎn)品線，推出采用各種封裝、器件特性不斷完善的產(chǎn)品，助力提高設(shè)計(jì)靈活性并實(shí)現(xiàn)碳中和目標(biāo)。
開(kāi)漏分配中FLAG信號(hào)輸出的操作示例
Thermoflagger TCTH021AE電路板樣品
應(yīng)用： - 移動(dòng)設(shè)備（筆記本電腦等） - 家用電器 - 工業(yè)設(shè)備等 特性： - 配置簡(jiǎn)單，可與PTC[1]熱敏電阻結(jié)合使用 - 通過(guò)串聯(lián)PTC[1]熱敏電阻，可同時(shí)在多個(gè)點(diǎn)進(jìn)行過(guò)溫監(jiān)測(cè)。 - 低電流消耗： IDD＝1.8μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE） IDD＝11.3μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE） - 小型標(biāo)準(zhǔn)封裝：SOT–553（ESV） - 擴(kuò)大了PTC[1]熱敏電阻的選擇范圍，具有兩種類(lèi)型的PTCO輸出電流： IPTCO＝1.00μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE） IPTCO＝10.0μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE） - 高PTCO輸出電流精度：±8% - FLAG信號(hào)輸出（PTCGOOD）可選擇推挽型和開(kāi)漏型 - 可選擇FLAG信號(hào)鎖存功能 主要規(guī)格： （除非另有說(shuō)明，Tj＝25℃）
注： [1] PTCO輸出電流：由過(guò)溫檢測(cè)IC提供給PTC熱敏電阻的恒定電流。 [2] 當(dāng)過(guò)溫檢測(cè)IC檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)，就會(huì)輸出FLAG信號(hào)。推挽型由兩個(gè)垂直堆疊的MOSFET組成。輸出電流以任一方向流入和流出。開(kāi)漏型由一個(gè)MOSFET組成。輸出電流只向一個(gè)方向流動(dòng)。 [3] FLAG信號(hào)鎖存功能在過(guò)溫檢測(cè)IC檢測(cè)到錯(cuò)誤（即使只有一次）后保持FLAG信號(hào)。過(guò)溫檢測(cè)IC不能自行恢復(fù)；需要通過(guò)從MCU等將信號(hào)輸入到RESET引腳來(lái)恢復(fù)。 [4] 之前發(fā)布的產(chǎn)品 如需了解有關(guān)新產(chǎn)品的更多信息，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)以下網(wǎng)址： TCTH011AE https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH011AE.html TCTH012AE https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH012AE.html TCTH021AE https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH021AE.html TCTH022AE https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH022AE.html TCTH011BE https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH011BE.html TCTH012BE https://toshiba-semicon-storage. ... tail.TCTH012BE.html | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
