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三菱電機(jī)功率器件的技術(shù)和產(chǎn)品趨勢(shì)

發(fā)布時(shí)間:2012-2-25 19:02    發(fā)布者:1770309616
三菱電機(jī)功率器件的技術(shù)和產(chǎn)品趨勢(shì).pdf (1.11 MB)

  在對(duì)環(huán)境的投入已成社會(huì)必然要求的背景下,可有效利用資源和能源的電力電子技術(shù)主角 — 功率器件的作用,也就顯得尤為重要。
  我們?nèi)怆姍C(jī)以“低損耗”和“小型化”功率器件的命題為基礎(chǔ),時(shí)刻聽(tīng)取大家的意見(jiàn);迄今為止,以引領(lǐng)變頻器產(chǎn)品市場(chǎng)的智能功率模塊為首,已制造出眾多產(chǎn)品。
  今后,為了各領(lǐng)域中欲創(chuàng)造高附加價(jià)值產(chǎn)品的企業(yè)客戶,將更進(jìn)一步致力于功率器件的高功能化。不僅著眼于提高基本功能和開(kāi)發(fā)新功能,還將致力于可提高開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)及生產(chǎn)效率的集成技術(shù)、合乎客戶需求的高性價(jià)比封裝技術(shù)等方面的技術(shù)鉆研。
  我們將充分發(fā)揮積累至今的綜合性技術(shù)以及技術(shù)人員的精神,通過(guò)為企業(yè)客戶創(chuàng)造有用的產(chǎn)品,掀起電力電子技術(shù)世界的新潮流,一如既往地致力于功率器件的開(kāi)發(fā),為建設(shè)未來(lái)環(huán)保型社會(huì)做貢獻(xiàn)。
  在數(shù)百Hz〜數(shù)十kHz的領(lǐng)域中,三菱電機(jī)以IGBT元件為主要器件,開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)了可適用于電氣化鐵道、工業(yè)、汽車、醫(yī)療設(shè)備、消費(fèi)電子等眾多領(lǐng)域的各種功率模塊。在此,向大家介紹這一領(lǐng)域中的產(chǎn)品和技術(shù)趨勢(shì)。

  
  首先從功能方面來(lái)講,從系統(tǒng)結(jié)構(gòu)中搭載多個(gè)分立半導(dǎo)體的器件初期開(kāi)始,為提高其便利性,就已開(kāi)發(fā)了內(nèi)置主電路排線的IGBT模塊。然后,通過(guò)集成驅(qū)動(dòng)功能及保護(hù)功能,誕生了具備更高功能的智能功率模塊(IPM)。
  IPM產(chǎn)品通過(guò)內(nèi)置周邊電路,可縮短客戶的開(kāi)發(fā)、設(shè)計(jì)時(shí)間,有利于減少生產(chǎn)線上的裝配工序數(shù)及設(shè)備小型化。最近,除工業(yè)用途外,在家電產(chǎn)品中也得到了廣泛的應(yīng)用。而且,為有利于今后提高整體系統(tǒng)的效率,將繼續(xù)推進(jìn)周邊零部件的集成化及系統(tǒng)控制、系統(tǒng)保護(hù)功能、以及含信息通信功能等在內(nèi)的高功能化。
  1:封裝的發(fā)展
  封裝在由分立式轉(zhuǎn)化為盒式的進(jìn)程中,現(xiàn)已出現(xiàn)了通用封裝概念的NX系列,和用于電氣化鐵道等的大容量、高絕緣型。而且,還開(kāi)發(fā)出可適用于半導(dǎo)體IC封裝技術(shù)的壓注模封裝,以DIPIPM™ 產(chǎn)品群為代表,以消費(fèi)電子為中心不斷推廣發(fā)展。
  1-1:可靈活應(yīng)對(duì)客戶需求、實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比的NX系列
  被稱為新一代盒式封裝的NX系列,其封裝概念為利用基本零件的通用化和裝配流程的靈活性,靈活應(yīng)對(duì)客戶需求,提高性價(jià)比。對(duì)盒體、底板、管腳、端子和盒蓋等基本零部件進(jìn)行通用化的同時(shí),通過(guò)裝配過(guò)程中改變管腳配置、主端子安裝位置等方式,可滿足各客戶需求。
  
  1-2:進(jìn)化的IPM和DIPIPM™
  在IPM中,將驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)置于IGBT,并將溫度保護(hù)、控制電壓的欠壓保護(hù)、短路時(shí)的保護(hù)功能等一體化。現(xiàn)在的L系列,在此基礎(chǔ)上增加了EMI噪聲對(duì)策的柵極調(diào)整電路,還內(nèi)置了各電流頻段中的噪聲減少功能。壓注模封裝的產(chǎn)品 DIPIPM™ ,應(yīng)用IC的制作方法,實(shí)現(xiàn)全硅化,提高了生產(chǎn)效率。目前,正在推進(jìn)往其中的控制IC里載入更多功能的技術(shù)開(kāi)發(fā)。
  
  DIPIPM™ 的封裝,是在引線框上安裝芯片,以往都是用樹(shù)脂進(jìn)行模塑。但用此模塑樹(shù)脂進(jìn)行散熱和絕緣時(shí),根據(jù)樹(shù)脂特性需要達(dá)到一定的厚度,難以實(shí)現(xiàn)低熱阻。因此,從DIPIPM™ 第4代的新系列起,開(kāi)發(fā)導(dǎo)入了絕緣片,確保其高絕緣性的同時(shí),又使其擁有良好的熱阻特性。產(chǎn)品本身也變得非常小巧。與之相反,若相比小型化,更追求與以往尺寸一致的情況下,可在同等封裝下控制更大電流。在初期的大型產(chǎn)品中,我們推出了600V/15A型產(chǎn)品。通過(guò)改善熱阻和損耗,額定電流增加到了50A,最近連75A也在可控范圍內(nèi)了。
  同等產(chǎn)品(封裝尺寸)中獲取更多電流。反之,使必需電流實(shí)現(xiàn)更小封裝/產(chǎn)品的技術(shù),已成為達(dá)到系統(tǒng)小型化及系統(tǒng)高電流密度的關(guān)鍵之一。
  2:第6代IGBT芯片開(kāi)發(fā)
  2-1:功率損耗和FOM上所見(jiàn)的功率芯片性能
  功率模塊共同點(diǎn)課題就是“低損耗”和“小型化”。邁向新一代繼續(xù)發(fā)展高功能化、高性能化,也是以解決這些課題為大前提來(lái)考慮的。因此需要開(kāi)發(fā)出性能更優(yōu)越功率芯片。
  首先看看搭載于功率模塊中的功率芯片與系統(tǒng)功率損耗的關(guān)系。從80年開(kāi)始,通過(guò)替換為使用雙極晶體管的第1代IGBT,就已產(chǎn)生了約30%的改善效果。其后從第1代更新到第3代,改善了約40%,切實(shí)降低了功率損耗,而目前的第5代為第1代的1/3〜1/4。這些損耗降低有利于實(shí)際應(yīng)用中節(jié)省電力,尤其在室內(nèi)空調(diào)等變頻家電產(chǎn)品達(dá)到了令人驚嘆的省電效果。
  
  下面,介紹一下測(cè)量功率芯片性能的Figure Of Merit(FOM)。以通態(tài)壓降和開(kāi)關(guān)損耗的乘積除以導(dǎo)通功率芯片的電流密度即為FOM。通態(tài)壓降表示導(dǎo)通時(shí)的損耗,而切斷功率損耗是以開(kāi)關(guān)損耗為基準(zhǔn)的特性值。這里再加上可確定通電能力的電流密度,這三個(gè)特性值即可形成FOM。
  FOM值越大,性能就越高。
  
  從FOM來(lái)看,IGBT第1代到第3代,性能提高了約4倍。現(xiàn)在的第5代比第1代性能提高了約10倍。今后的第6代當(dāng)然要比第5代更低損耗,以性能指標(biāo)提高約30%為目標(biāo)推進(jìn)開(kāi)發(fā)。
  2-2:結(jié)構(gòu)技術(shù)的進(jìn)化實(shí)現(xiàn)低損耗
  集電極到發(fā)射極的所經(jīng)路線,可用若干電阻元件分解表示。初期產(chǎn)品平面型IGBT有JFET電阻元件。為改善這一問(wèn)題,從第4代起導(dǎo)入溝槽結(jié)構(gòu),消除了 JFET電阻元件,降低了功率損耗。而第5代,更設(shè)計(jì)了可減小體電阻的載流子蓄積層,力求降低損耗。在第6代,我們繼續(xù)追求從結(jié)構(gòu)上也降低損耗。
  
  2-3:利用劃時(shí)代的獨(dú)創(chuàng)技術(shù),推進(jìn)開(kāi)發(fā)第6代功率芯片
  目前在第5代IGBT芯片上,開(kāi)發(fā)并采用了降低損耗效果極佳的CSTBT™ 結(jié)構(gòu)。現(xiàn)在第6代IGBT芯片的開(kāi)發(fā)也采用了CSTBT™ 結(jié)構(gòu)。
  第6代IGBT芯片開(kāi)發(fā)的核心技術(shù)有以下兩點(diǎn)。改善短路耐量的結(jié)構(gòu)技術(shù) ––“雜質(zhì)濃度分布曲線的優(yōu)化”,和降低通態(tài)壓降、擴(kuò)大電流通道的“晶圓微細(xì)加工”。
  IGBT芯片中安裝的晶體單元數(shù)量決定電流導(dǎo)通順暢程度,因此如何縮短溝槽間隔,將更多的晶體單元安裝到IGBT芯片中,就成為關(guān)鍵。從模擬結(jié)果發(fā)現(xiàn),若將溝槽間隔從目前的間距4µm壓縮到2.5µm時(shí),功率損耗的基準(zhǔn)導(dǎo)通電阻可降低約20〜30%。
  
  2-4:優(yōu)化減少閾值電壓偏差的濃度分布曲線
  采用這項(xiàng)技術(shù),可以降低導(dǎo)通阻抗,但其弊端是導(dǎo)致安全工作區(qū) (SOA) 變窄。為抑制這一弊端,確立了“優(yōu)化濃度分布曲線”的技術(shù)。
  柵極閾值電壓是決定短路耐量和安全工作區(qū)SOA的一項(xiàng)指標(biāo)。閾值電壓低時(shí),雖可獲得電流,但短路耐量會(huì)變短。反之,閾值電壓高時(shí),短路耐量加強(qiáng),但無(wú)法獲得電流。也就是說(shuō),以閾值電壓為參數(shù),電流容量和短路耐量存在背反關(guān)系。為改善此背反關(guān)系,確立了“優(yōu)化濃度分布曲線”的技術(shù)。
  CSTBT™ 結(jié)構(gòu)在構(gòu)造上,雖有生產(chǎn)流程偏差容易影響閾值電壓等特性的問(wèn)題,但第6代IGBT芯片利用高能離子注入技術(shù)優(yōu)化濃度分布曲線,從結(jié)構(gòu)上改善了生產(chǎn)流程偏差的影響。減少閾值電壓偏差可使SOA的設(shè)計(jì)更有余地。故可通過(guò)微細(xì)加工力求低損耗,還可確保SOA。
  
  
  通過(guò)改善偏差,在與以往相同的感性負(fù)載短路下,保證時(shí)間為10µs
  
  
  定常損耗中,開(kāi)關(guān)損耗比第5代改善了約30%
  
  
  除性能提高外,外觀比以往的NF系列尺寸縮小了約30%。
  
  
  與第5代整體比較,通態(tài)壓降減小,偏差減半,從原來(lái)的±1V變成±0.5V。
  在保持一般能力的同時(shí),也確保了短路耐量和SOA,從整體上大幅度改善了權(quán)衡關(guān)系。
  2-5:與IGBT芯片共同發(fā)展的二極管技術(shù)開(kāi)發(fā)
  這些IGBT芯片從第5代到第6代發(fā)展的同時(shí),二極管的技術(shù)開(kāi)發(fā)也與時(shí)俱進(jìn)。目標(biāo)就是通過(guò)使VF溫度系數(shù)為正,及背面陰極部分厚度變薄,以降低通態(tài)壓降。
  
  
  與以往250〜300µm的厚度相比,減少到一半以下,為100幾十µm
  
  通過(guò)晶圓薄型化和優(yōu)化雜質(zhì)濃度,使交點(diǎn)(Tj=125℃的正向電壓(VF)-正向電流(IF)曲線和Tj=25℃的VF-IF曲線相交叉的電流值)略低于額定電流,二極管超負(fù)荷使用時(shí),利用正溫度系數(shù)消除電流集中。以此概念為基礎(chǔ),達(dá)到低VF化和正溫度系數(shù)。
  二極管還有一個(gè)很大的問(wèn)題,即反向恢復(fù)工作時(shí)會(huì)引起電壓振蕩,成為噪聲源。二極管的特性決定在低溫、高壓、低電流的情況下,使之反向恢復(fù)工作時(shí),會(huì)產(chǎn)生電壓振蕩。但與第6代IGBT芯片組合使用的二極管器件,通過(guò)優(yōu)化濃度,可抑制電壓振蕩。
  
  
  150A、1200V二極管芯片的驗(yàn)證。在額定電流(300A)約1/15左右的23A/cm²低電流下,使之工作。圖為開(kāi)關(guān)時(shí)的恢復(fù)波形
  
  
  通態(tài)壓降和恢復(fù)損耗的關(guān)系。通態(tài)壓降變小時(shí)反向恢復(fù)電場(chǎng)變大。第6代比以往改善了約35%左右。
  3:功率器件的展望
  3-1:產(chǎn)品發(fā)展
  第6代IGBT芯片從FOM來(lái)說(shuō),比以往改善了約1.3倍。即在同一電流密度下使用時(shí),損耗降低了約30%。二極管芯片的損耗也比以往產(chǎn)品降低了約30%。使用這些芯片的IGBT模塊實(shí)現(xiàn)了低損耗,抑制了二極管恢復(fù)動(dòng)作時(shí)的電壓振蕩,做到了低EMI化。而且,利用封裝技術(shù),進(jìn)行通用封裝下更大容量產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)。
  IPM及DIPIPM™ 方面,在力求低損耗和低EMI化的同時(shí),更為提高功率密度,將可提高附加值的功能集成化,并結(jié)合到新一代產(chǎn)品中。
  此外,關(guān)于比DIPIPM™ 更小容量即1A〜2A水平的產(chǎn)品方面,不采用模塊形式,而是開(kāi)發(fā)出用硅片將整個(gè)電路單元全部裝入在內(nèi)的芯片。1個(gè)半導(dǎo)體芯片即可構(gòu)成變頻電路的單片機(jī)變頻器。含共三層變頻驅(qū)動(dòng)用IGBT、保護(hù)電路、柵極驅(qū)動(dòng)功能,也包括控制功能,全部單片化。最初目標(biāo) — 500V/1A級(jí)別的產(chǎn)品已進(jìn)入開(kāi)發(fā)收尾階段,可向客戶提供樣品。
  
  3ー2:功率器件的發(fā)展
  功率器件通過(guò)各項(xiàng)技術(shù)改善,可控制功率密度也得以提高。用雙極晶體管構(gòu)成的變頻器,功率密度為0.1 W/cc。體積為1 cc時(shí),可控制功率密度為0.1 W左右。此數(shù)值IGBT芯片登場(chǎng)后,提升了一個(gè)數(shù)位,達(dá)到1 W /cc。而現(xiàn)在的第5代,已進(jìn)化到可控制數(shù)W/cc的水平。按此趨勢(shì),通過(guò)低損耗的探索和技術(shù)革新,今后也將持續(xù)進(jìn)步。
  
  作為可替代硅的新半導(dǎo)體材料而備受矚目的碳化硅(SiC),因?yàn)椴牧蟽r(jià)格非常昂貴,考慮到性價(jià)比方面,會(huì)優(yōu)先使用于一些特殊用途。因?yàn)樗跀?shù)百℃的環(huán)境中也能工作,今后會(huì)考慮將其器件化,以彌補(bǔ)硅無(wú)法應(yīng)用的領(lǐng)域。
  由此,今后功率器件可望獲得更大的發(fā)展。

來(lái)源:三菱半導(dǎo)體
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