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納芯微宣布推出全新基于AMR（各向異性磁阻技術(shù)）的輪速傳感器NSM41xx系列。該系列產(chǎn)品通過(guò)集成先進(jìn)的磁性傳感敏感單元與ASIC技術(shù)，能夠精準(zhǔn)監(jiān)測(cè)車輪轉(zhuǎn)速，為防抱死制動(dòng)系統(tǒng)（ABS）、車身電子穩(wěn)定系統(tǒng)（ESP）以及電動(dòng)轉(zhuǎn)向助力系統(tǒng)（EPS）等控制系統(tǒng)提供了有力支持，顯著提升了車輛在復(fù)雜工況下的安全性和穩(wěn)定性，為汽車安全出行保駕護(hù)航。 作為控制系統(tǒng)中的關(guān)鍵組件，輪速傳感器在車輛行駛過(guò)程中扮演著至關(guān)重要的角色。它必須在高溫、嚴(yán)寒、潮濕等極端路況下穩(wěn)定運(yùn)行，同時(shí)抵御電磁干擾（EMI）等復(fù)雜環(huán)境因素的影響。因此，輪速傳感器不僅需要具備卓越的抗干擾能力，還要擁有出色的環(huán)境適應(yīng)性。這些特性共同確保了其在各種工況下的功能安全、可靠性和精度，從而滿足汽車對(duì)高性能傳感器的嚴(yán)格要求。 NSM41xx系列輪速傳感器嚴(yán)格按照功能安全標(biāo)準(zhǔn)ISO 26262 ASIL B (D)要求開發(fā)，支持ASIL D等級(jí)的系統(tǒng)，確保在極端條件下仍能保持高度的功能安全性和可靠性。此外，該系列產(chǎn)品滿足AEC-Q100 Grade 0的可靠性標(biāo)準(zhǔn)，并通過(guò)了頭部大客戶提出的超過(guò)30項(xiàng)嚴(yán)苛EMC測(cè)試要求。這些認(rèn)證和測(cè)試結(jié)果充分證明了NSM41xx系列在極端工作溫度和復(fù)雜干擾工況下的卓越穩(wěn)定性。無(wú)論是在城市道路的頻繁啟停、高速公路的長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定行駛，還是山區(qū)道路的爬坡、下坡以及崎嶇路面的顛簸行駛等復(fù)雜工況下，NSM41xx系列輪速傳感器均能精準(zhǔn)測(cè)量車輪速度，為車輛的安全行駛提供可靠保障。 高靈敏度、強(qiáng)抗干擾能力 相比傳統(tǒng)的霍爾（Hall）技術(shù)，采用AMR技術(shù)的NSM41xx系列輪速傳感器的靈敏度有了顯著提升。在相同磁輪對(duì)比中，其氣隙（airgap）比霍爾輪速傳感器提升了50%，在大空氣間隙下的抖動(dòng)（jitter）表現(xiàn)提升了3倍。這種性能的飛躍得益于AMR傳感器獨(dú)特的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)和電路架構(gòu)，使其在復(fù)雜電磁環(huán)境中展現(xiàn)出卓越的抗干擾能力，有效保障了測(cè)量數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)與穩(wěn)定。 此外，NSM41xx系列的敏感單元采用納芯微的磁阻專利設(shè)計(jì)，并結(jié)合優(yōu)化算法與先進(jìn)封裝工藝。這些技術(shù)的融合確保了傳感器在極端駕駛條件下依然能夠保持高度可靠的性能，滿足高靈敏度輪速測(cè)量的需求。 高精度、高可靠性 在極端環(huán)境條件下，NSM41xx系列輪速傳感器也展現(xiàn)了卓越的穩(wěn)定性和可靠性，支持-40℃至150℃的寬工作溫度范圍，確保汽車控制系統(tǒng)在高溫、低溫等極端環(huán)境下依然能夠精準(zhǔn)、穩(wěn)定地運(yùn)行。 憑借先進(jìn)的振動(dòng)抑制算法和信號(hào)追蹤算法，NSM41xx系列能夠在顛簸路段等復(fù)雜工況下持續(xù)輸出高精度的輪速信號(hào)。即使在極其嚴(yán)苛的行駛條件下，它也能確保測(cè)量結(jié)果的精準(zhǔn)與一致，為車輛的關(guān)鍵安全系統(tǒng)提供堅(jiān)實(shí)可靠的保障，守護(hù)每一次安全出行。 多種型號(hào)可供選擇 NSM41xx系列輪速傳感器不僅兼容磁輪目標(biāo)輪，還支持鐵輪目標(biāo)輪的應(yīng)用。納芯微產(chǎn)品出廠時(shí)自帶背磁，完美適配鐵輪需求，客戶無(wú)需進(jìn)行二次貼磁芯操作，從而省去了復(fù)雜的貼背磁及檢驗(yàn)工序，大大簡(jiǎn)化了客戶的生產(chǎn)流程。 此外，NSM41xx系列支持多種通信協(xié)議，包括標(biāo)準(zhǔn)方波協(xié)議、PWM協(xié)議以及AK協(xié)議，為客戶提供靈活的配置選擇，滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景的需求，進(jìn)一步提升了產(chǎn)品的通用性和易用性。 高質(zhì)量、高品質(zhì) 在晶圓測(cè)試階段，NSM41xx系列的每一顆芯片均經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)，包括DFT掃描測(cè)試和IDDQ測(cè)試，以提前篩選出晶圓制造過(guò)程中可能出現(xiàn)的缺陷。在最終檢驗(yàn)階段（FT），NSM41xx系列的每一顆芯片還需經(jīng)歷三溫測(cè)試（-40℃、25℃、150℃），確保產(chǎn)品在交付前經(jīng)過(guò)全方位的嚴(yán)格測(cè)試。 此外，NSM41xx系列還具備多種內(nèi)部診斷模式，能夠在出現(xiàn)違背功能安全的失效時(shí)，及時(shí)輸出報(bào)警信息，并使芯片進(jìn)入安全狀態(tài)，為客戶的系統(tǒng)提供全方位的保障。 可追溯性強(qiáng) NSM41xx系列的封裝表面均印有二維碼，通過(guò)掃碼即可快速追溯對(duì)應(yīng)的產(chǎn)品信息和封裝批次信息。同時(shí)，芯片內(nèi)部的ASIC die所在晶圓位置坐標(biāo)以及晶圓批次信息均存儲(chǔ)于內(nèi)部的MTP（多次可編程存儲(chǔ)器）中。這一設(shè)計(jì)有助于輕松追蹤故障件的源頭信息，極大地簡(jiǎn)化了故障排查流程，為產(chǎn)品的質(zhì)量管控和問(wèn)題溯源提供了有力支持。 |
