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對(duì)比方案應(yīng)用模式固定，調(diào)試簡(jiǎn)單，MCU主控端只需要移植對(duì)稱加密算法和簡(jiǎn)單的加密操作即可，不需對(duì)主控MCU端原有程序做大的改動(dòng)。同時(shí)也不需要用戶了解加密芯片內(nèi)部運(yùn)行流程，因此調(diào)試周期短，研發(fā)投入小。提供相應(yīng)的Demo例程，用戶直接移植即可使用。 對(duì)比認(rèn)證方案實(shí)現(xiàn)的步驟如下： l 主控MCU與加密芯片端分別預(yù)置安全密鑰Key1、Key2（相同的3DES密鑰） l MCU與加密芯片端預(yù)置相同的初始向量Iv(8字節(jié)) 和附加數(shù)據(jù)（16字節(jié)） l MCU端發(fā)送附帶16字節(jié)隨機(jī)數(shù)Rand1（密文傳送）指令，請(qǐng)求加密芯片產(chǎn)生挑戰(zhàn)數(shù)據(jù) l 加密芯片端使用Key2解密指令數(shù)據(jù)得到Rand1 l 加密芯片端產(chǎn)生16字節(jié)隨機(jī)數(shù)Rand2 l 計(jì)算D1，D1 = (Rand1 ^ Rand2 ^ Solt ) l 生成挑戰(zhàn)數(shù)據(jù)D, D= D1 || Rand2 l 計(jì)算密文C，C =3DES_EncCBC(Iv，key2, D)。并將C返回給MCU l MCU端解密密文C，3DES_DecCBC(Iv，key1, C)，截取Rand2 l MCU端計(jì)算D1’, D1’ = (Rand1 ^ Rand2 ^ Solt ) l 如果 D’ == D 則認(rèn)證成功，否則認(rèn)證失敗 對(duì)比認(rèn)證流程圖如下所示： 
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