泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器

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泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器主要特點

獨立采樣器偏移校正技術保證簡便地反嵌夾具和探頭

雙通道（80E11X1 除外）

精密微波連接器（3.5 mm、2.92 mm、2.4 mm 和 1.85 mm）

探頭支持

泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器應用

適用于串行數據應用的阻抗檢定和 S 參數測量

高級抖動、噪聲和 BER 分析

通道和眼圖仿真及基于測量的 SPICE 模型

泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器

80E10B、80E08B 和 80E04 是雙通道時域反射計 (TDR) 采樣模塊，其中，80E10B 最多可提供 12 ps 入射上升時間和 15 ps 反射上升時間（80E08B 最多可提供 18 ps 入射上升時間，80E04 最多可提供 23 ps 入射上升時間）。這些模塊的每條通道都可以產生可在 TDR 模式下使用的快速階躍，而且，采樣模塊的采集部分會監測入射階躍和任何反射能量。可獨立選擇每條通道階躍的極性。這允許在對隔離線進行獨立測試的同時，對兩條耦合線進行差分或共模 TDR 測試或 S 參數測試。每條通道獨立產生階躍實現了真正差分測量，從而確保了差動設備的測量精度。

80E10B 和 80E08B 是小型、全面集成的獨立 2 米遠程采樣器系統，使得采樣器可放置在 DUT 附近，并確保最佳信號保真度。這兩個模塊通過使用 TDR 階躍驅動一條線來檢定串擾（或者使用一個線對來檢定差分串擾），同時使用另一條通道來監測另一條線（或另一個線對）（或者使用另一個模塊來檢定差分串擾）。8000 系列主機的“濾波器”功能可與 TDR 測量或串擾測量配合使用，以檢定邊沿速率較慢的預期系統性能。

所有模塊都有獨立的入射階躍和接收器相差校正功能，可消除測量夾具和探頭的影響，從而實現更快速、更簡便的測試夾具反嵌。80E10B 采樣模塊的采集上升時間為 7 ps，可選等效帶寬最高為 50 GHz（有 50 GHz、40 GHz 和 30 GHz 三種設置可供選擇）。80E08B 的采樣帶寬為 30 GHz（用戶可選擇 30 GHz 或 20 GHz），80E04 的采樣帶寬為 20 GHz。20 GHz P8018 單端 TDR 探頭和 18 GHz P80318 差分變量點距 TDR 探頭具有出色的性能和兼容性，實現了輕松而精確的背板和封裝測量。