作者：張淑雯，晶圓代工項(xiàng)目主管；Joseph Davis，產(chǎn)品營銷主管，Mentor Graphics
過去10年，先進(jìn)IC節(jié)點(diǎn)的設(shè)計(jì)規(guī)則手冊(cè)從幾十頁的小冊(cè)子擴(kuò)充為幾百頁的一本書。這種擴(kuò)充源自于圖層數(shù)量的大幅 ...
大家都在談?wù)揊inFET——可以說，這是MOSFET自1960年商用化以來晶體管最大的變革。幾乎每個(gè)人——除了仍然熱心于全耗盡絕緣體硅薄膜(FDSOI)的人，都認(rèn)為20 nm節(jié)點(diǎn)以后，F(xiàn)inFET將成為SoC的未來。 ...
作者：Xilinx半導(dǎo)體特許工程師 Adam Taylor
工程設(shè)計(jì)項(xiàng)目中最令人振奮的時(shí)刻之一就是第一次將硬件移到實(shí)驗(yàn)室準(zhǔn)備開始集成測(cè)試的時(shí)候。開發(fā)過程中的這個(gè)階段通常需要很長時(shí)間，也會(huì)對(duì)所有的項(xiàng) ...
作者：明導(dǎo)硅測(cè)試解決方案部門良率分析產(chǎn)品經(jīng)理Geir Eide
半導(dǎo)體良率取決于許多因素。如果您的設(shè)備使用領(lǐng)先的工藝生產(chǎn)，您可能與代工廠不辭辛勞地密切合作以確保工藝和產(chǎn)品良率有一定程度的 ...
作者: Carey Robertson
電路可靠性 , 亦即電路抗電氣故障的魯棒性(robustness) , 已日益成為IC設(shè)計(jì)師的關(guān)注點(diǎn)。其中的很多問題多年來已為人所知,有時(shí)人們覺得可靠性風(fēng)險(xiǎn)主要是最新制程世代才 ...
作者：Carey Robertson，產(chǎn)品營銷、電路布局驗(yàn)證和參數(shù)提取總監(jiān)，明導(dǎo)Design to Silicon部門
鰭式場(chǎng)效晶體管（簡稱 finFET）的推出標(biāo)志著 CMOS 晶體管首次被看作是真正的三維器件。由于源漏 ...
從工業(yè)自動(dòng)化到醫(yī)療設(shè)備，從家用電器到車載娛樂信息系統(tǒng)，嵌入式系統(tǒng)對(duì)于日益增多的現(xiàn)代產(chǎn)品的運(yùn)行和功能而言至關(guān)重要。在這個(gè)充滿變幻不定的期望以及幾乎所有公司都在盡力追求浮華“酷炫”的用 ...
作者：明導(dǎo) Calibre 設(shè)計(jì)解決方案新市場(chǎng)與新興市場(chǎng)產(chǎn)品營銷經(jīng)理 Christen Decoin
在高級(jí)節(jié)點(diǎn)，有效的電網(wǎng)分析是確保小尺寸連接器可以處理電流需求，而不會(huì)造成潛在失效模式或信號(hào)完整性問題 ...
作者：Joe Kwan，來自明導(dǎo)
如今對(duì)于一些技術(shù)節(jié)點(diǎn)，設(shè)計(jì)人員需要在晶圓代工廠流片和驗(yàn)收之前進(jìn)行光刻友好設(shè)計(jì) (Litho Friendly Design) 檢查。由于先進(jìn)節(jié)點(diǎn)的解析度增進(jìn)技術(shù) (RET) 限制，即使 ...
嵌入式技術(shù)作為21世紀(jì)智能時(shí)代的核心技術(shù)，越來越多的在科技和生活領(lǐng)域承擔(dān)起支柱性作用，同時(shí)也引領(lǐng)著新時(shí)代的人們奔赴充滿想象的未來。今天嵌入式系統(tǒng)的應(yīng)用已經(jīng)滲入到社會(huì)生產(chǎn)、生活的各個(gè)方 ...
挑戰(zhàn)
當(dāng)今汽車、越野車輛、航天航空和國防領(lǐng)域的制造商面臨的挑戰(zhàn)主要是對(duì)不斷縮短設(shè)計(jì)周期，同時(shí)保持或提高質(zhì)量的需求。在電氣設(shè)備增加，以及源于增加成品定制化服務(wù)的市場(chǎng)需求而使復(fù)雜性提 ...
作者：Ron Press，明導(dǎo)
對(duì)于許多現(xiàn)有的和未來的集成芯片器件來說，一項(xiàng)主要挑戰(zhàn)就是如何為龐大數(shù)量的設(shè)計(jì)創(chuàng)建測(cè)試圖案。對(duì)于有百萬門甚至數(shù)億門的設(shè)計(jì)，傳統(tǒng)上等到設(shè)計(jì)完成再創(chuàng)建測(cè)試圖案的 ...
