作者：明導高級物理驗證方法項目經理David Abercrombie 曾經，我花了大量時間談論雙重圖案微影技術。我認為是時候開始展望多重圖案微影的發展前景了（不要驚慌！）。正如您可能聽過或者讀過 ...

作者：Maxim應用工程師Bill Laumeister 對一個復雜的設備進行故障診斷的時候，知識儲備是最重要的。我們想要并且需要去了解相關的一些問題。它包括正確的IC版本號，在哪里可以找到有關的參考 ...

Ron Wilson，總編輯，Altera公司 對基于SoC系統設計正確方法的爭論非常激烈。是傳統的寄存器傳送級(RTL)流程?還是C語言行為模型的高級綜合?減少了代碼生成的知識產權(IP)重用方法又怎樣呢? ...

當你坐在計算機旁工作或在網上沖浪，當你打開電視機欣賞節目，當你在川流不息的人群中拿起無繩電話，當你的VCD或DVD正在播放驚心動魄的hoolywood 電影. ......你可知道在這些和我們的生活和工作 ...

NI公司供稿 雖然NI LabVIEW軟件長期以來一直幫助工程師和科學家們快速開發功能測量和控制應用，但不是所有的新用戶都會遵循LabVIEW編程的最佳方法。 LabVIEW圖形化編程比較獨特，因為只需看 ...

作者：Omar Mussa,程序架構師和專業服務經理, NI聯盟伙伴JKI 　　 Justin Goeres,程序架構師和產品市場經理, NI聯盟伙伴JKI 成為LabVIEW漏洞修復高手 如果您經常使用NI LabVIEW軟件， ...

摘要：對于28納米及以下節點，選擇和放置多種過孔類型的復雜要求對LEF/技術文件的繞線構成了挑戰，導致設計規則檢查 (DRC) 錯誤增多（需要耗費時間來調試和改正），最終影響了良率和性能。 ...

作者： David Karpaty 簡介 放大器的仿真模型通常是利用電阻、電容、晶體管、二極管、獨立和非獨立的信號源以及其它模擬元件來實現的。一種替代方法是使用放大器行為的二階近似（拉普拉斯 ...

作者: Arjun Pal Chowdhury,Neha Agarwal 隨著數字化設計和SoC的日益復雜，復位架構也變得非常復雜。在實施如此復雜的架構時，設計人員往往會犯一些低級錯誤，這些錯誤可能會導致亞穩態、干 ...

作者: Farzad Zarrinfar 在傳統的大規模ASIC和SoC設計中，芯片的物理空間大致可分為用于新的定制邏輯、用于可復用邏輯(第三方IP或傳統的內部IP)和用于嵌入式存儲三部分。 當各廠商為芯片 ...

作者：明導公司 Matthew Hogan 集成電路可靠性——新興的競爭因素 可靠性驗證正獲得越來越多的關注。器件和導體愈加小巧，器件氧化層越來越薄，電源域的數量快速增長。數字內容的顯著增加 ...

作者： David Karpaty 簡介 放大器的仿真模型通常是利用電阻、電容、晶體管、二極管、獨立和非獨立的信號源以及其它模擬元件來實現的。一種替代方法是使用放大器行為的二階近似（拉普拉斯 ...