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可見(jiàn)光二極管（LED）以其高效率和長(zhǎng)壽命的特點(diǎn)廣受歡迎，正獲得越來(lái)越廣泛的應(yīng)用，包括汽車顯示器和外部大燈、路燈、戶外標(biāo)識(shí)、視頻監(jiān)控器等。廣大LED廠商在研發(fā)方面大量投入，已經(jīng)推出了具有更高亮度、更新色彩和更長(zhǎng)壽命的LED產(chǎn)品，將促使其具有更廣泛的應(yīng)用需求。現(xiàn)在比以往任何時(shí)候更加需要高性價(jià)比的測(cè)試方法確保這類器件的可靠性與質(zhì)量。 在不同的生產(chǎn)階段LED測(cè)試涉及不同類型的測(cè)試序列，例如設(shè)計(jì)研究與開(kāi)發(fā)階段、生產(chǎn)過(guò)程的晶圓級(jí)測(cè)量以及封裝器件的最終測(cè)試。具體的測(cè)試“處方”通常包含多個(gè)步驟，以檢驗(yàn)產(chǎn)品壽命，或者分析特定性能指標(biāo)數(shù)據(jù)，但是這些內(nèi)容超出了本應(yīng)用筆記的范圍。本文旨在提供關(guān)于這些處方所需“成份”的實(shí)際資料——幫助說(shuō)明如何探測(cè)二極管特性的基本測(cè)試以及測(cè)試配置范例。本文還介紹了如何利用最新的測(cè)試技術(shù)提高測(cè)試產(chǎn)能，包括支持吉時(shí)利測(cè)試腳本處理器（TSPTM）的測(cè)試儀器。 下載： 
201401131.pdf
(1.03 MB)
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