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純石墨烯(graphene)薄片制成的IC能以比硅芯片更低的溫度、更高的速度運作，但遺憾的是，無缺陷的石墨烯薄片非常難產生，甚至其缺陷也很難表征出來。為此美國康乃爾大學(Cornell University)研究人員宣布發明了一種影像技術，能通過將石墨烯薄片色彩化，來簡化其量測方法，快速地辨識出石墨烯薄片的特性。 康乃爾大學發明的新技術，能通過將完美的石墨烯片邊緣著色，來區分出石墨烯薄片的哪些區域是真正的單層膜(monolayers)；利用繞射成像電子顯微鏡(diffraction imaging electron microscopy)，該技術能量測出電子從石墨烯薄片表面反彈的角度，然后用不一樣的顏色來標示，所產生的色彩化薄片影像，就能很快地根據其定位辨識出晶界(grain boundaries)。 采用該技術所產生的影像，看起來就像是一幅拼布作品；較大的固定區域代表完美的單分子膜小薄片，被著色的邊緣則代表那些小薄片之間的不完美接口。這個研發計劃是由美國國家科學基金會(NSF)所贊助。 |
