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是德科技（NYSE：KEYS）推出三款新型PXIe 源表模塊，旨在滿足高精度、高分辨率測試應用的靈活測量需求。這些應用包括半導體以及其他非線性器件和材料的電流-電壓（I-V）表征及測試。 源表（SMU） 是一種能夠同時供電和測量的電子儀器，可以精準地施加電壓或電流，同時對電壓和/或電流進行精確測量。是德科技源表 產品豐富多樣，總體分為四個類別：精密型、特定應用型、通用型和基礎型。 是德科技此次發布的新款 源表模塊包括： • Keysight M9601A PXIe 精密型 SMU模塊，非常適用于要求高分辨率、高精度的各種電流電壓（I-V）測量任務，如半導體、有源/無源元器件和通用電子器件的表征，以及參數/可靠性測試。憑借 500 nV/10 fA 的精密分辨率，這款產品可以支持最高達到 210 V/315 mA 的精準測量。脈沖和采樣測量功能使得 M9601A 能夠以 1.25 MSa/s 的采樣率執行從直流到最低 20 μs 脈沖的各種測量。 • Keysight M9614A 和 M9615A 是 PXIe 五通道精密型 SMU模塊，非常適合有高通道密度要求的應用，譬如半導體可靠性測試和集成電路（IC）測試。憑借 6 uV/10 pA 的精密分辨率，這兩款儀器可以支持最高 30 V/500 mA 的精準測量，并且能以更低的通道成本提供比常規 PXIe 四通道 SMU模塊 更大的輸出范圍。這兩款儀器的無縫電流測量量程調節功能省去了更改量程所需的時間，并將動態范圍擴展到了四個測量量程，從而大大縮短了測試的整體耗時。 • Keysight M9602A 和 M9603A 是 PXIe 精密型 SMU模塊，具有脈沖寬度窄（10 μs）、輸出范圍大的特點，采樣速率最高達到15 MSa/s。它們能為測試垂直腔面發射激光器（VCSEL）光學器件以及輸出范圍大、分辨率高的集成電路（IC）等大量新興應用提供動態/脈沖測量。此外，這兩款儀器的噪聲低，能夠支持短孔徑時間測量，無縫電流測量量程調節功能省去了更改量程所需的時間，提高了測試吞吐量。 是德科技電子行業產品副總裁 Christopher Cain 表示：“過去幾十年以來，是德科技一直在為業界提供高精度SMU。我們的增強型臺式 B2900B 系列 源表在精度、精密性和測量吞吐量方面樹立了新標桿。我們以自身深厚的 SMU 專業知識和最新電子技術為基礎，打造出了一系列高精度 PXIe 模塊化 SMU模塊。這些高密度測量 SMU 模塊可在 PXIe 系統中靈活擴充，從而縮短多達 25% 的總體測試時間，這對于垂直腔面發射激光器件和量子計算測量具有非常重要的意義。” |
