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在半導體、汽車、醫(yī)療等高端制造行業(yè)，源表通常被用于半導體材料或精密器件的電性能特性測試和生產(chǎn)測試應用，以及中低電平測試和實驗室研究使用。源表采用四象限工作模式，可以在提供精密電壓、電流源的同時，又能夠作為電壓、電流、電子負載使用，集“源”和“表”的功能于一體。 源表，又叫做SMU(Source Measure Unit)源測量單元，1989年出生，如今已過而立之年，以不可更改的姿態(tài)走過了一段崢嶸歲月。 Stage 1:進口源表稱霸江湖二十載 1989年，第一臺進口數(shù)字源表（SMU）誕生。在此后的二十多年時間里，市場被其壟斷，占有率達到80%。受限于高端測試裝備的基礎研究不足，以及缺乏先進工藝等因素，多年時間內(nèi)，國內(nèi)沒有一家企業(yè)能實現(xiàn)源表的自主研發(fā)。 九十年代中期，國內(nèi)開始引進進口的數(shù)字源表。在國內(nèi)的研究中，數(shù)字源表主要被用于特定材料和精密器件的實驗和測試環(huán)境搭建。但由于進口源表價格昂貴，且供貨周期長，中小企業(yè)不堪重負，在電子課程教學和實驗室中也未能廣泛應用。 而電性能特性又是表征半導體材料和精密器件性能的重要指標，隨著半導體等高科技行業(yè)的勃發(fā)，高端檢測設備在產(chǎn)業(yè)鏈上呈現(xiàn)出巨大的需求。 Stage 2:加速替代“舶來品”，國產(chǎn)化源表躋身市場 2015年，面對國內(nèi)市場的迫切需求，武漢普賽斯儀表有限公司率先開始對源表進行研究開發(fā)。對其工作框架的邏輯關系、主要功能電路、主要算法都進行了系列研究，依托領先的光學與光電技術、微弱信號處理與抗干擾技術、高速數(shù)字信號處理、核心算法與系統(tǒng)集成等技術平臺優(yōu)勢，普賽斯成為國內(nèi)率先自主推出數(shù)字源表的企業(yè)。 自此，國產(chǎn)化源表打破了國外的技術壁壘，實現(xiàn)進口替代。且價格優(yōu)勢明顯，服務響應迅速，得到國內(nèi)通信巨頭的認證。 時隔八年，國產(chǎn)化數(shù)字源表的發(fā)展雖然較為緩慢，但得益于巨大的市場需求驅(qū)動，眾多高端儀器設備廠家紛紛入局，國產(chǎn)化源表呈現(xiàn)“百花齊放”的態(tài)勢。 Stage 3:八年磨一劍，是開路人也是攀登者 國產(chǎn)化源表的研究開發(fā)先后經(jīng)歷了引進、發(fā)展、創(chuàng)新三個階段。起初，由于國內(nèi)對于數(shù)字源表的研究還處于剛起步階段，市場上的國產(chǎn)化源表雖然在功能上實現(xiàn)源、測的功能，但是在整體性能和進口源表還有一定的差距，例如測量精度、測量速度以及長期穩(wěn)定性等。 普賽斯儀表深耕半導體電性能測試領域。八年磨一劍！核心產(chǎn)品數(shù)字源表的功能不斷升級完善，于2023年初推出SXXB系列高精度數(shù)字源表，操作更加智能和便捷，測量精度進一步提高至±0.03%，最大直流電流升級至3A，以適用于更復雜和精密的測量環(huán)境。 此外，基于核心的數(shù)字源表，普賽斯儀表攻克一個又一個技術難關，橫向拓展了脈沖式源表、窄脈沖電流源、集成插卡式源表、高精度的超大電流源、高精度高壓電源、數(shù)據(jù)采集卡等一站式國產(chǎn)化電性能測試儀表，實現(xiàn)了半導體全產(chǎn)業(yè)鏈的測試需求覆蓋。 數(shù)字源表的優(yōu)勢： 性能強大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作。可以限定電壓或電流輸出大小，預防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 靈活多樣-支持兩線制和四線制測量，更準確的低內(nèi)阻量測;集成線性階梯掃描、對數(shù)階梯掃描、自定義掃描等模式;專業(yè)l-V特性及半導體參數(shù)測試軟件。易學實用-簡化了如I-V和l-t/V-t曲線等各種應用的測量準備工作。電容式觸摸屏圖形用戶界面(GUI),提供圖形化和數(shù)字化兩種測量結(jié)果顯示模式，便于使用和查看。 提供的應用程 - 序列掃描 - 自定義序列 - 數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測試模式；持續(xù)輸出恒流源測試模式 - APD管 - 晶體管：MOSFET管測試；三極管測試 - LIV：PIN管掃描測試 - Gummer：雙臺源表使用同樣參數(shù)進行掃描 |
