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簡介 本文旨在介紹 安森美 (onsemi) 的在線 Elite Power 仿真工具和 PLECS 模型自助生成工具 (SSPMG) 所具有的技術優(yōu)勢，提供有關如何使用在線工具和可用功能的更多詳細信息。我們首先介紹一些與 SPICE 和 PLECS 模型有關的基礎知識，接下來介紹開關損耗提取技術和寄生效應影響的詳細信息，并介紹虛擬開關損耗環(huán)境的概念和優(yōu)勢。該虛擬環(huán)境還可用來研究系統(tǒng)性能對半導體工藝變化的依賴性。最后，本文詳細介紹對軟硬開關皆適用的 PLECS 模型以及相關的影響。總結部分闡明了安森美工具比業(yè)內其他用于電力電子系統(tǒng)級仿真的工具更精確的原因。 物理和可擴展 SPICE 建模 基于半導體物理學的物理和可擴展 SPICE 建模的引入替代了行為較不準確的SPICE 模型。此類行為模型無法代表復雜的現(xiàn)代功率器件，例如 SiC MOSFET 和 IGBT。安森美的物理 SPICE 模型可捕捉復雜效應，如反向恢復、自發(fā)熱以及因制造中的工藝技術分布而引起的電氣參數(shù)變化。首先會生成一個核心可擴展模型，然后通過調整特定的芯片布局和封裝參數(shù)，為采用相同技術的多個產品生成模型。 以下白皮書介紹了安森美的物理和可擴展建模的詳細信息1,2,3,4。這種建模能力是安森美的先進PLECS 建模能力的基石，在后續(xù)章節(jié)中有詳細介紹。 PLECS 基礎知識 PLECS 不是基于 SPICE 的電路仿真工具，此類工具重點關注的是電路元件的低級別行為5。而 PLECS 可通過優(yōu)化的器件模型促進完整系統(tǒng)的建模和仿真，盡可能地提高速度和精度。因此像 SiC MOSFET 這樣的功率晶體管被視為簡單的開關，經過簡單配置后，可以顯示與導通和開關轉換相關的損耗。PLECS 模型稱為“熱模型”，包含導通和開關損耗的查找表以及 Cauer 或 Foster 等效網絡形式的熱鏈。通常，基于測量的損耗表與制造商提供的數(shù)據(jù)表一致。在仿真期間，PLECS 使用損耗表通過插值和/或外推的方法，獲得電路運行偏置點下的導通和開關損耗。 下載全文： 
安森美技術文章——安森美引領行業(yè)的 Elite Power 仿真工具和 PLECS 模型自助生成工具.pdf
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