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分立電阻器在最后的封裝狀態(tài)要進(jìn)行單點(diǎn)通過(guò)/失敗測(cè)試，這對(duì)確保產(chǎn)品符合制造商性能指標(biāo)至關(guān)重要，而且可以在出貨前識(shí)別劣質(zhì)電阻器以及輕微不良的電阻器。通常要對(duì)電阻器進(jìn)行兩項(xiàng)測(cè)試：電阻器電壓系數(shù)測(cè)試以及電阻器公差帶測(cè)試。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量，這些測(cè)試必須可靠，但為了保持高生產(chǎn)量，測(cè)試必須迅速進(jìn)行。在許多分立電阻器生產(chǎn)測(cè)試中，還要使用分立儀器，如電源和數(shù)字萬(wàn)用表等。 下載： 
DiscreteResisTest_AppNote－CN.pdf
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