分立電阻器檢定測試系統的常見誤差來源——引線電阻

發布時間：2012-6-20 14:04 發布者：majake2011

為了避免測量誤差，必須根據待測電阻器的阻值大小使用特定的測量技術。對于小電阻(<100Ω)測量，引線電阻和熱電動勢可能帶來誤差問題。當測量大電阻(>10MΩ)時，漏電流和靜電干擾可能導致讀數錯誤。

引線電阻

測量小電阻(<100Ω)時常見的誤差來源是從2400數字源表到電阻器之間測試引線的串聯電阻。當采用兩線連接時，這個串聯電阻添加到測量中(參見圖1)。當連接線纜較長且使用的電流較大時，引線電阻的引入會對測試產生嚴重影響，因為同測得的電壓相比，引線電阻產生的電壓降是不可忽視的。

圖1
雙線技術

圖2
四線連接

為了避免這個問題，使用四線測量方法而不采用兩線技術。利用四線方法（圖2），使用一對引線為電阻提供電流激勵，并通過另一對引線測量電阻電壓降。因此，測得的結果只是被測電阻兩端的電壓降。

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