|
參加EDI CON CHINA，聆聽專家洞見。活動期間將舉辦兩場專家論壇，都由 Microwave Journal總編Pat Hindle主持： 5G OTA測試專家論壇: (4月1日)，大規(guī)模MIMO、動態(tài)波束賦形以及設(shè)備和系統(tǒng)上缺少射頻測試端口使得無線（OTA）測試對5G部署至關(guān)重要。行業(yè)專家們將討論OTA測試的選項，如近場測量、間接遠(yuǎn)場測量和混響室技術(shù)。這些技術(shù)對5G設(shè)備和系統(tǒng)的生產(chǎn)測量非常實用。 GaN技術(shù)的現(xiàn)狀專家論壇: (4月2日)，這個半導(dǎo)體代工廠和設(shè)備制造商參加的專家論壇將回顧和討論GaN制造技術(shù)的現(xiàn)狀，涵蓋可靠性、先進(jìn)的散熱技術(shù)、新的封裝創(chuàng)新、Si與SiC襯底、毫米波GaN器件、將GaN用于其他類型的器件（如開關(guān)、LNA、 Mixers）等主題 ，以及中國GaN半導(dǎo)體生產(chǎn)的狀況。 EDI CON 電子創(chuàng)新大會網(wǎng)站： http://www.mwjournalchina.com/edicon/ 會議議程： http://www.mwjournalchina.com/edicon/techprogram.asp 立刻使用VIP碼“EDIC19EEC ”注冊可免費參會： https://bj.infosalons.com.cn/reg/EDI19/conferencecn/start.aspx |
