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一、系統(tǒng)背景 電阻測(cè)試是表征材料特性的較常用的測(cè)試手段，在某些應(yīng)用中，用戶需要進(jìn)行極端微小電阻（Ultra-lowresistance）測(cè)試，例如納米材料，超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，低電阻材料、連接器的測(cè)試，或者精密的熱量測(cè)定和研究領(lǐng)域。這些被測(cè)件通常具有非常高的導(dǎo)電性和非常小的電阻阻值，對(duì)測(cè)試連接方案有很大挑戰(zhàn)。在進(jìn)行這類材料和器件的測(cè)試過程中，為了最大限度的降低被測(cè)設(shè)備的自熱效應(yīng)，確保待測(cè)件的安全和測(cè)量的準(zhǔn)確性，通常會(huì)使用加流測(cè)壓的方式，在被測(cè)物兩端施加可控的微弱精密電流信號(hào)，通過歐姆定律測(cè)定被測(cè)件的電阻阻值。 
上圖為融化斷裂的納米管，由于施加電流過大自熱引起斷裂 在微小電阻測(cè)試領(lǐng)域，泰克公司提供的微小電阻測(cè)試 方 案， 通 過 使 用 吉 時(shí) 利 高 精 度 電 流 源 622X（100fA~100mA輸出可調(diào)）或 2400 系列源表，以及納伏表 2182A（1nV 靈敏度）組合成為完備的測(cè)試解決方案，完美解決了在微小電阻測(cè)試過程中經(jīng)常遇到的問題，使電阻測(cè)量靈敏度高達(dá) 10nΩ。 配合上位機(jī)軟件和測(cè)試夾具，可以一站式解決用戶在儀表與待測(cè)件連接，測(cè)試結(jié)果存儲(chǔ)，以及數(shù)據(jù)分析過程中遇到的繁雜問題，提高測(cè)試效率。 二、方案特點(diǎn)極高的電阻測(cè)試分辨率和大測(cè)試量程相比其他方法，622X + 2182A 方案提供了高達(dá) 10nΩ的電阻測(cè)試分辨率，提供了極高的性價(jià)比。更好的發(fā)熱控制622X 電流源輸出的電流分辨率高可以達(dá)到 100fA，可以精確控制加載在待測(cè)件兩端的電流大小，確保待測(cè)件處在安全狀態(tài)下更先進(jìn)的測(cè)試方法，消除熱電動(dòng)勢(shì)
系統(tǒng)主要由 622X 高精度電流源（或 2400 系列高精度源表）、2182A 納伏表、測(cè)試夾具、轉(zhuǎn)接盒和上位機(jī)軟件構(gòu)成。
622X 精密電流源可以輸出正負(fù)電流，編程分辨率高達(dá)100fA，6221 可以輸出帶寬在 1mHz ~ 100KHz 的交流和任意電流波形
2182A 具備 1nV 電壓測(cè)試分辨率，提供兩個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道，可以與622X 配合實(shí)現(xiàn) Delta Mode 測(cè)試。
CT-MICR-ADP 轉(zhuǎn)接盒 方案還提供專用轉(zhuǎn)接頭配件 CT-MICR-ADP，可以將622X 和 2182A 的各種輸出接口（插片或者鱷魚夾）統(tǒng)一轉(zhuǎn)接為標(biāo)準(zhǔn)的 4 終端 BNC 接口，方便與其他夾具或者探針臺(tái)進(jìn)行互連。
通過 CT-MICR-ADP 連接微小表面貼裝器件的夾具 上位機(jī)測(cè)試軟件 Cyclestar-MICR 提供了多種測(cè)試模式，包括 R-T 功能，電流掃描測(cè)試功能，Delta Mode模式。
在 Delta Mode 下的軟件測(cè)試界面 軟件的 Pro 高級(jí)版還集成了脈沖測(cè)試功能，微分電導(dǎo)測(cè)試模式和 622X 任意波形輸出功能。
Pro 版本提供的脈沖、微分電導(dǎo)和任意波形輸出功能 一體化測(cè)試方案可以幫助客戶在短時(shí)間內(nèi)搭建起微小電阻測(cè)試環(huán)境，針對(duì)不同物理尺寸，不同連接方式，和不同測(cè)試方法都可以快速方便的進(jìn)行連接測(cè)試，并在電腦端直接記錄獲取數(shù)據(jù)進(jìn)行后續(xù)分析。 四、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
使用 CT-MICR-ADP 轉(zhuǎn)接盒還可以將測(cè)試系統(tǒng)與探針臺(tái)或其他夾具進(jìn)行連接
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